[发明专利]真圆度量测装置及真圆度量测方法有效
| 申请号： | 201510500018.2 | 申请日： | 2015-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN106289027B | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 范光照;许智钦 | 申请（专利权）人： | 智泰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/207 | 分类号： | G01B5/207 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人： | 杨波 |
| 地址： | 中国台湾新北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种真圆度量测方法包括以下步骤。承载并转动待测物于转盘上。驱动二量测单元的二量测平面而分别抵接于待测物的相对两侧，其中二量测单元设置于转盘的相对两侧，且二量测平面彼此平行且垂直转盘的顶面。在转动转盘一圈时，间隔的量测二量测平面的最短直线距离而产生一变化信息。在转盘转动一圈后，经由处理单元接收变化信息而产生量测信息。另外，本发明还揭露一真圆度量测装置的实施例。 | ||
| 搜索关键词： | 度量 量测 变化信息 量测单元 相对两侧 测装置 待测物 转盘 最短直线距离 彼此平行 处理单元 垂直转盘 量测信息 转动转盘 转盘转动 平面的 抵接 顶面 转动 承载 驱动 | ||
【主权项】：
1.一种真圆度量测方法，其特征在于包括：承载并转动一待测物于一转盘上；提供二量测单元，每一所述量测单元具有一弹性件及一量测平面，所述二量测平面彼此平行且垂直所述转盘的顶面；首先，分别利用所述弹性件将所述二量测平面抵推至彼此紧贴，并设定各所述量测单元的读值为零，接着，抵推所述弹性组件将所述二量测平面彼此远离地外移，以夹持所述待测物的相对两侧，此时，所述二量测平面的最短直线即为所述待测物的直径，亦即所述二量测单元的读值和，接着，在转动所述转盘一圈时，间隔的量测所述二量测平面的最短直线距离而产生一变化信息；以及在所述转盘转动一圈后，经由一处理单元接收所述变化信息而产生一量测信息，所述量测信息至少为所述待测物的平均直径以及所述待测物转动时的半径变化量。
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