[发明专利]真圆度量测装置及真圆度量测方法

权利要求书

1.一种真圆度量测方法，其特征在于包括：

承载并转动一待测物于一转盘上；

提供二量测单元，每一所述量测单元具有一弹性件及一量测平面，所述二量测平面彼此平行且垂直所述转盘的顶面；

首先，分别利用所述弹性件将所述二量测平面抵推至彼此紧贴，并设定各所述量测单元的读值为零，接着，抵推所述弹性组件将所述二量测平面彼此远离地外移，以夹持所述待测物的相对两侧，此时，所述二量测平面的最短直线即为所述待测物的直径，亦即所述二量测单元的读值和，接着，在转动所述转盘一圈时，间隔的量测所述二量测平面的最短直线距离而产生一变化信息；以及

在所述转盘转动一圈后，经由一处理单元接收所述变化信息而产生一量测信息，所述量测信息至少为所述待测物的平均直径以及所述待测物转动时的半径变化量。

2.如权利要求1所述的真圆度量测方法，其特征在于：所述量测信息更包含所述待测物的平均半径以及所述待测物转动时的轴心偏移量。

3.如权利要求1所述的真圆度量测方法，其特征在于：所述待测物为一圆球体或一圆柱体。

4.如权利要求1所述的真圆度量测方法，其特征在于：每一所述量测单元包含一测量件，用以量测对应的所述量测平面在间隔地转动所述角度时一位移的位移变化，所述位移平行所述待测物接触所述二量测平面的相对两端点的连线。

5.一种真圆度量测装置，包括：

一转盘，用以承载并转动一待测物；

二量测单元，设置于所述转盘的相对两侧，每一所述量测单元具有一量测平面，所述二量测平面彼此平行且垂直所述转盘的顶面，用以相互抵接以及分别抵接于所述待测物的相对两侧，每一所述量测单元具有一弹性件，连接对应的所述量测平面，用以弹性地抵推所述量测平面，其中当所述转盘转动一圈时，所述二量测单元间隔的量测所述二量测平面的最短直线距离而产生一变化信息；以及

一处理单元，电性连接所述量测单元，用以在所述转盘转动一圈后，接收所述变化信息而产生一量测信息，所述量测信息至少为所述待测物的平均直径以及所述待测物转动时的半径变化量。

6.如权利要求5所述的真圆度量测装置，其特征在于：所述量测信息更包含所述待测物的平均半径以及所述待测物转动时的轴心偏移量。

7.如权利要求5所述的真圆度量测装置，其特征在于：所述待测物为一圆球体或一圆柱体。

8.如权利要求5所述的真圆度量测装置，其特征在于：每一所述量测单元包含一测量件，用以量测对应的所述量测平面在间隔地转动所述角度时一位移的位移变化，所述位移平行所述待测物接触所述二量测平面的相对两端点的连线。