[发明专利]一种偏光片尺寸的检测方法及装置在审
| 申请号： | 201510477741.3 | 申请日： | 2015-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN105157580A | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 朱青山;尹德胜 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏光片尺寸的检测方法包括：在偏光板CCD图像传感器对位过程中，接收所述图像传感器发送的感测到的偏光板信息；根据所述偏光板信息，计算出所述偏光板的长宽尺寸；将计算出的所述偏光板的长宽尺寸与预设的规格尺寸进行比对；如果计算出的所述偏光板的长宽尺寸超出所述预设的规格尺寸，则产生报警信号。本发明实现了在贴附前进行100％的来料检测，保证偏光板尺寸在贴附工艺开始时，进行检测和拦检，能够保证时效性，同时不会造成异常偏光板贴附造成额外的人力和设备产能的损失，而且减少偏光板尺寸变异对产品品质的影响，能够在贴附制程完成前进行实现材料尺寸预警。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏光 尺寸 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种偏光片尺寸的检测方法，其特征在于，所述偏光片尺寸的检测方法包括：在偏光板CCD图像传感器对位过程中，接收所述图像传感器发送的感测到的偏光板信息；根据所述偏光板信息，计算出所述偏光板的长宽尺寸；将计算出的所述偏光板的长宽尺寸与预设的规格尺寸进行比对；如果计算出的所述偏光板的长宽尺寸超出所述预设的规格尺寸，则产生报警信号。
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