[发明专利]半导体器件、布局设计和用于制造半导体器件的方法有效

专利信息
申请号: 201510464852.0 申请日: 2015-07-31
公开(公告)号: CN105895617B 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 林建宏;张新君;陈秀帆;邱垂青;李永辉 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/538 分类号: H01L23/538;H01L21/768;G06F17/50
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体器件包括第一互连结构。第一互连结构包括第一互连部分、第二互连部分和第三互连部分。第一互连部分具有宽度和长度。第二互连部分的宽度小于第一互连部分的长度。第二互连部分连接至第一互连部分。第三互连部分的宽度小于第二互连部分的宽度。第三互连部分连接至第二互连部分。本发明涉及半导体器件、布局设计和用于制造半导体器件的方法。
搜索关键词: 半导体器件 布局 设计 用于 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:第一互连结构,包括:第一互连部分,具有宽度和长度;第二互连部分,所述第二互连部分的宽度小于所述第一互连部分的长度,其中,所述第二互连部分连接至所述第一互连部分;以及第三互连部分,所述第三互连部分的宽度小于所述第二互连部分的宽度,其中,所述第三互连部分连接至所述第二互连部分;第二互连结构,连接至所述第一互连结构的所述第三互连部分。
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