[发明专利]材料缺陷位置和尺寸的超声多途检测方法在审
| 申请号： | 201510430866.0 | 申请日： | 2015-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN105044209A | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 沈希忠;郭杜斌;王磊;王政文;韩发新 | 申请（专利权）人： | 上海应用技术学院 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200235 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种材料缺陷位置和尺寸的超声多途检测方法，首先，采用排成一行的传感器阵列的标准收发测量法来测量一个孤立缺陷的尺寸，对接收传感器的超声信号进行建模，识别多途信号；然后，使用传统的超声检测技术，识别出直达反射路径DRP，用同一目标，预估多途组合路径MP-C和多途路径MP-W，用直达反射路径DRP和多途组合MP-C来检测缺陷的顶部，用来检测缺陷底部的多途路径MP-W用来检测缺陷的底部，通过所有被识别的多路径进行超声成像，得到检测缺陷的尺寸。只进行单次测量就能检测缺陷的位置和尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 缺陷 位置 尺寸 超声 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种材料缺陷位置和尺寸的超声多途检测方法，其特征在于，首先，采用排成一行的传感器阵列的标准收发测量法来测量一个孤立缺陷的尺寸，对接收传感器的超声信号进行建模，识别多途信号；然后，使用传统的超声检测技术，识别出直达反射路径DRP，用同一目标，预估多途组合路径MP‑C和多途路径MP‑W，用直达反射路径DRP和多途组合MP‑C来检测缺陷的顶部，用来检测缺陷底部的多途路径MP‑W用来检测缺陷的底部，通过所有被识别的多路径进行超声成像，得到检测缺陷的尺寸。
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