[发明专利]一种陶瓷‑金属纳米线复合薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510406383.7 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN105002469B 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 高俊华;惠帅;曹鸿涛 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司33224 代理人: 刘诚午
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种制备陶瓷‑金属纳米线复合薄膜的方法,该方法采用磁控溅射,借助溅射过程中化合物陶瓷靶及金属靶功率的调控,并结合辅助衬底偏压的选择性刻蚀,可大范围实施复合薄膜内金属纳米线尺寸及间距的调整;同时,该方法在制备薄膜过程中,绿色无污染,且方便在各类型衬底材料上低成本、大面积制备。本发明所述的陶瓷可以是氧化物、氮化物、硼化物及碳化物等;所述的金属可以是金、银、铜、铂等;所述衬底可以为金属、或无机半导体材料、或无机绝缘材料;所述的陶瓷‑金属纳米线复合薄膜可以是单层,也可以是具备不同金属体积百分数膜层的叠加,即多层堆叠结构。采用本发明所制备的复合薄膜,具备明显的光学各向异性。
搜索关键词: 一种 陶瓷 金属 纳米 复合 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种陶瓷‑金属纳米线复合薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)将衬底进行预处理;(2)分别以化合物陶瓷和金属作为靶材,在步骤(1)处理过的衬底的表面进行磁控溅射,得到所述的陶瓷‑金属纳米线复合薄膜;当所述的衬底为导电衬底时,衬底偏压类型为直流或脉冲偏压;当所述的衬底为绝缘衬底时,衬底偏压类型为射频偏压;所述的衬底偏压功率密度为0.1‑2W/cm2,自偏压大小高于‑60V;所述的化合物陶瓷靶溅射功率密度范围为4.5‑20W/cm2,所述的金属靶溅射功率密度范围为0.3‑3W/cm2;溅射气压范围为0.1‑0.5Pa,靶基距不低于80mm。
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