[发明专利]基于偏振光成像技术的检测方法在审
| 申请号: | 201510351426.6 | 申请日: | 2015-06-23 | 
| 公开(公告)号: | CN104899890A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 | 
| 发明(设计)人: | 刘晓;王赟;王勇 | 申请(专利权)人: | 上海一雅实业有限公司 | 
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/50;G01N21/88 | 
| 代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 吴俊 | 
| 地址: | 200082 上海*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | 本发明涉及一种图像处理技术领域,尤其涉及一种基于偏振光成像技术的检测方法及检测装置。本发明将偏振光成像和强度成像原理相结合,将多源图像进行融合,利用偏振图像信息和强度图像信息中互补信息生成一幅增强的融合图像,融合图像的细节要比偏振图像和强度图像中任何一幅都突出,形成一幅增强的汲取了多源图像的新图像,融合图像中目标区别特征的对比度远高于强度图像中目标区别特征的对比,从而获得单一图像无法获取的相关场景的描述,克服单一图像所存在的局限性,提高待检测物的检测效率,增强了检测效率的准确性。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 偏振光 成像 技术 检测 方法 | ||
【主权项】:
                一种基于偏振光成像技术的检测方法,应用于待检测物表面瑕疵检测,其特征在于,包括如下步骤,步骤S1、于三个预定角度通过一光强度成像装置获取所述待检测物表面的光强度参量;步骤S2、于三个所述预定角度通过一偏振光成像检测系统获取所述待检测物表面图像,形成三个光强度不同的所述表面图像输出;步骤S3、一计算单元根据三个光强度不同的所述表面图像结合所述光强度参量获取Stokes参量和偏振度参量P;步骤S4、将所述表面图像分成若干个小图像,根据所述Stokes参量和偏振度参量P计算每个所述小图像的平均能量值,步骤S5、选取平均能量值最高的所述小图像为待融合图像;步骤S6、对所述待融合图像的光强度参量I和偏振度参量P进行小波分解,分别获取所述待融合图像的光强度参量I的低频系数、光强度参量I的高频系数、偏振度参量P的低频系数、偏振度参量P的高频系数;步骤S7、根据所述光强度参量I的低频系数、光强度参量I的高频系数、偏振度参量P的低频系数、偏振度参量P的高频系数获取待融合的低频系数、待融合的高频系数,步骤S8、根据所述待融合的高频系数和所述待融合的低频系数进行图像重构,获取融合图像;步骤S9、对融合图像进行瑕疵检测。
            
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