[发明专利]用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源在审
| 申请号: | 201510323603.X | 申请日: | 2015-06-12 |
| 公开(公告)号: | CN104880254A | 公开(公告)日: | 2015-09-02 |
| 发明(设计)人: | 刘岩;翟玉卫;刘霞美;赵琳;丁立强;李盈慧 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 李荣文 |
| 地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开一种用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源,涉及辐射测温装置技术领域。所述温度源包括红外辐射源和光学调制器,红外辐射源与光学调制器正对设置,所述红外辐射源发出的恒定的红外信号传输至光学调制器,光学调制器对所述恒定的红外信号进行调制,得到变化的红外辐射信号,模拟物体辐射温度的变化。该模拟脉冲温度源能够模拟物体辐射温度的变化,能够精确控温,具有高发射率以及良好的温度均匀性。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 显微 红外 热像仪 响应 时间 参数 测试 模拟 脉冲 温度 | ||
【主权项】:
一种用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源,其特征在于包括红外辐射源和光学调制器,红外辐射源与光学调制器正对设置,所述红外辐射源发出的恒定的红外信号传输至光学调制器,光学调制器对所述恒定的红外信号进行调制,得到变化的红外辐射信号,模拟物体辐射温度的变化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510323603.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于图像识别与无线监控的玻璃温度计检定装置
- 下一篇:一种外加剂精配装置





