[发明专利]用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源

权利要求书

1.一种用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于包括红外辐射源和光学调制器，红外辐射源与光学调制器正对设置，所述红外辐射源发出的恒定的红外信号传输至光学调制器，光学调制器对所述恒定的红外信号进行调制，得到变化的红外辐射信号，模拟物体辐射温度的变化。

2.根据权利要求1所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述红外辐射源为黑体辐射源。

3.根据权利要求1所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述红外辐射源包括温控装置（1）、靶标（2）和光阑（3），所述靶标（2）的温度受控于所述温控装置（1），靶标（2）用于提供被测温度目标，在使用时显微红外热像仪测量的即是该靶标（2）的温度；所述靶标（2）与所述光阑（3）相对设置，所述光阑（3）上设有通光孔（4），光阑（3）用于控制通光孔径尺寸，影响红外辐射信号强度，以及调制的上升下降时间。

4.根据权利要求3所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述温控装置（1）包括铂电阻或热电阻，所述铂电阻或热电阻位于靶标（2）上，用于监测靶标（2）的温度，提供温度反馈到温控装置（1）。

5.根据权利要求3所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述温控装置（1）包括电加热器、半导体制冷器、水冷器或液氮制冷器，用于调制靶标（2）温度。

6.根据权利要求3所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述靶标（2）使用高发射率或低发射率材料制作。

7.根据权利要求3所述的用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源，其特征在于：所述光学调制器采用光学斩波器（5），所述光学斩波器（5）与所述光阑（3）相对设置，用于调制靶标（2）发射出的红外辐射信号，光学斩波器（5）的调制频率决定温度信号的调制频率，光学斩波器（5）的转动频率以及光阑通光孔径尺寸决定温度信号的上升下降时间。