[发明专利]一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置有效
| 申请号： | 201510305232.2 | 申请日： | 2015-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN104965127B | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 王益;张翠翠;王建忠;魏竹 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院计量测试中心 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人： | 翟长明,韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置。含有闭式谐振腔、被测介质材料、支撑柱、耦合探针、测试电缆、矢量网络分析仪以及底座、耦合探针夹持件；其特征在于被测介质材料放置于闭式谐振腔内部的支撑柱上，耦合探针通过耦合孔伸入闭式谐振腔内，经测试电缆连接于矢量网络分析仪，闭式谐振腔固定放置于底座中部位置，耦合探针夹持件放置于底座上并分列于闭式谐振腔两侧，耦合探针固定于耦合探针夹持件上。本发明适用于低损耗和高损耗介质材料的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 谐振腔 介电常数 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，含有闭式谐振腔（1）、被测介质材料（2）、支撑柱（3）、耦合探针（4）、测试电缆（5）、矢量网络分析仪（6）以及底座（8）、耦合探针夹持件（9）；其特征在于被测介质材料（2）放置于闭式谐振腔（1）内部的支撑柱（3）上，耦合探针（4）通过耦合孔伸入闭式谐振腔（1）内，经测试电缆连接于矢量网络分析仪（6），闭式谐振腔固定放置于底座（8）中部位置，耦合探针夹持件（9）放置于底座（8）上并分列于闭式谐振腔（1）两侧，耦合探针（4）固定于耦合探针夹持件（9）上；所述的闭式谐振腔（1），由一个圆筒和上下两个圆盘状盖板组成；所述的闭式谐振腔的腔体采用金属材料制作，并对金属材料表面进行镀银或者镀金处理；所述的闭式谐振腔中的圆筒的中间位置或盖板上开有两个耦合孔，供耦合探针伸入闭式谐振腔（1）内部进行电磁场耦合；所述的耦合孔为圆形通孔，直径略大于耦合探针直径；所述的支撑柱（3），为聚四氟乙烯、石英材料；支撑柱（3）的半径小于被测介质材料（2）半径的1/5，其高度能够使被测介质材料（2）达到闭式谐振腔（1）的中间位置。
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