[发明专利]一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置

权利要求书

1.一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，含有闭式谐振腔（1）、被测介质材料（2）、支撑柱（3）、耦合探针（4）、测试电缆（5）、矢量网络分析仪（6）以及底座（8）、耦合探针夹持件（9）；其特征在于被测介质材料（2）放置于闭式谐振腔（1）内部的支撑柱（3）上，耦合探针（4）通过耦合孔伸入闭式谐振腔（1）内，经测试电缆连接于矢量网络分析仪（6），闭式谐振腔固定放置于底座（8）中部位置，耦合探针夹持件（9）放置于底座（8）上并分列于闭式谐振腔（1）两侧，耦合探针（4）固定于耦合探针夹持件（9）上；

所述的闭式谐振腔（1），由一个圆筒和上下两个圆盘状盖板组成；

所述的闭式谐振腔的腔体采用金属材料制作，并对金属材料表面进行镀银或者镀金处理；

所述的闭式谐振腔中的圆筒的中间位置或盖板上开有两个耦合孔，供耦合探针伸入闭式谐振腔（1）内部进行电磁场耦合；所述的耦合孔为圆形通孔，直径略大于耦合探针直径；

所述的支撑柱（3），为聚四氟乙烯、石英材料；支撑柱（3）的半径小于被测介质材料（2）半径的1/5，其高度能够使被测介质材料（2）达到闭式谐振腔（1）的中间位置。

2.根据权利要求1所述的微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，其特征在于：所述的被测介质材料（2）为圆柱状，放置于闭式谐振腔的支撑住（3）上，被测介质材料（2）位于闭式谐振腔的中部位置，被测介质材料（2）半径与高度的尺寸为闭式谐振腔（1）半径与高度的1/6至2/3。

3.根据权利要求1所述的微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，其特征在于：耦合探针（4）通过闭式谐振腔（1）上的开孔伸入谐振腔内部，调节深入长度，其结构一端为SMA、N型或APC7同轴电缆标准接头，另一端为环状耦合结构。

4.根据权利要求1所述的微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，其特征在于：所述的耦合探针（4）的结构为硬同轴线的内导体伸出后弯曲成环状，然后与外导体连接形成一个闭合环路，环面与腔体的上下底面平行。

5.根据权利要求1所述的微波闭式谐振腔复介电常数测量装置，其特征在于：所述的底座（8）将闭式谐振腔（1）和耦合探针夹持件（9）固定于其上面；所述的耦合探针夹持件（9）用于调节耦合探针（4）的位置以及深入闭式谐振腔（1）的深度。