[发明专利]一种可补偿的电压测量方法有效
| 申请号： | 201510304278.2 | 申请日： | 2015-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN105021865B | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 谢韶波;乔爱国;万巍;李晓 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯海科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 深圳市凯达知识产权事务所44256 | 代理人： | 刘大弯 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可补偿的电压测量方法，该方法通过两次测量叠加在地线的电流值可测量得到两次测量电压，测试设备也可获得的两次电压测试值，由此得到地线的接触电阻，之后算出被测芯片输出的电压值，即进行电压补偿后的电压值，该方法排除了由于接触不良导致接触电阻不同引起的不良影响，能够准确地测量电压，提高电压测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 补偿 电压 测量方法 | ||
【主权项】：
一种可补偿的电压测量方法，其特征在于该方法通过两次测量叠加在地线的电流值可测量得到两次测量电压，测试设备也可获得两次电压测试值，由此得到地线的接触电阻，之后算出被测芯片输出的电压值；第一次测试设备测量被测芯片的参考电压为VBC,而被测芯片实际输出的参考电压为VEF，由于测试设备的地引脚C与被测芯片的地引脚F之间存在接触电阻，可得到以下表达式：VBC＝VEF+I1*(R0+R0X)……(1)第二次测试时，测试设备需在测试设备供给被测芯片的电源引脚A端供电，同时额外增加被测芯片的普通输入输出引脚I2的驱动电流，则测试设备供给被测芯片的电源引脚与被测芯片的电源引脚AD的电流为I1+I2；同时，测试设备需在测试设备的可给电流激励的引脚H端通过被测芯片的普通输入输出引脚I端给被测芯片灌入电流I2，则测试设备的地引脚C与被测芯片的地引脚F的电流为I1+I2，测试设备测量被测芯片的参考电压为VBC2,而被测芯片实际输出的参考电压为VEF，可得到以下表达式：VBC2＝VEF+(I1+I2)*(R0+R0X)……(2)由公式(1),(2)可得(R0+R0X)＝(VBC2‑VBC)/I2……(3)VEF＝VBC‑I1*(VBC2‑VBC)/I2……(4)由两次测试的结果，则公式(4)就可精确得出芯片输出的参考电压值，其中I1*(VBC2‑VBC)/I2为接触电阻补偿回来的电压值。
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