[发明专利]优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码及解码方法在审
| 申请号： | 201510289990.X | 申请日： | 2015-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN104866243A | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 吴晨涛;过敏意;李颉;何绪斌;冯博;黄洵松 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G06F11/10 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 席虹岩 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码及解码方法，本发明为冗余磁盘阵列系统中纠删码的设计方案，包括了编码的横向与反斜向校验的编码方案，以及当至多两个磁盘失效时，利用校验链进行数据恢复的流程。与现有的双盘容错纠删码相比，本发明通过合理的编码设计，实现最佳的负载均衡，最优存储代价，以及良好的单盘恢复性能。 | ||
| 搜索关键词： | 优化 输入输出 负载 raid 横向 校验 编码 解码 方法 | ||
【主权项】：
一种优化输入输出负载的RAID‑6横向斜向校验编码方法，其特征在于，包括：用一个p‑1行p‑1列的方阵来表示规模为p‑1的磁盘阵列，其中p是任意给定的大于2的质数，其中，方阵中的每一列表示一个磁盘，方阵中的每个元素表示磁盘上一个定长的存储空间；在所述方阵的主对角线存放横向校验块，副对角线存放反斜向校验块，方阵的剩余元素存放数据块，主对角线为横向校验链，副对角线为反斜向校验链。
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