[发明专利]优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码及解码方法

权利要求书

1.一种优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码方法，其特征在于，包括：

用一个p-1行p-1列的方阵来表示规模为p-1的磁盘阵列，其中p是任意给定的大于2的质数，其中，方阵中的每一列表示一个磁盘，方阵中的每个元素表示磁盘上一个定长的存储空间；

在所述方阵的主对角线存放横向校验块，副对角线存放反斜向校验块，方阵的剩余元素存放数据块，主对角线为横向校验链，副对角线为反斜向校验链。

2.如权利要求1所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码，其特征在于，在所述方阵的主对角线存放横向校验块，副对角线存放反斜向校验块，方阵的剩余元素存放数据块包括：

根据横向和反斜向校验的计算公式在所述方阵的主对角线和副对角线之外的元素位置存放数据块；

根据所述横向和反斜向校验的计算公式，计算出所有横向校验块和反斜向校验块，并将所述横向校验块存放入所述方阵的主对角线上的对应的元素位置，将所述反斜向校验块存放入所述方阵的副对角线上的对应的元素位置。

3.如权利要求2所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码，其特征在于，所述横向校验的计算公式如下：

其中，C_i,i表示横向校验块，C_i,j表示方阵中第i行第j列的元素，0≤i,j≤p-2。

4.如权利要求3所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验编码，其特征在于，所述反斜向校验的计算公式如下：

(j≠p-2-i且j≠<p-3-2i>_p)，其中，C_i,p-2-i表示反斜向校验，表示方阵中第<2i+j+2>_p行第j列的元素,<2i+j+2>_p表示将2i+j+2的值对p取模。

5.如权利要求1所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验解码方法，其特征在于，包括：

当磁盘阵列的最多2个盘失效时，根据方阵中的横向和反斜向校验链恢复失效元素。

6.如权利要求1所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验解码方法，其特征在于，当磁盘阵列的1个盘失效时，根据方阵中的横向和反斜向校验链恢复失效元素包括：

读取方阵中的横向和反斜向校验链上的存活元素，计算存活元素的异或之和，将存活元素的异或之和作为失效元素的值。

7.如权利要求1所述的优化输入输出负载的RAID-6横向斜向校验解码方法，其特征在于，当磁盘阵列的2个盘失效时，根据方阵中的横向和反斜向校验链恢复失效元素包括：

步骤一，寻找位于失效的磁盘上且是所在反斜向校验链上唯一缺失的元素作为起始元素；

步骤二，通过所述反斜向校验链对所述起始元素进行恢复；

步骤三，当所述起始元素被恢复后，得到所述起始元素所在横向校验链上且位于失效盘上的一个第二元素，则通过所述横向校验链对所述第二元素进行恢复；

步骤四，判断失效的磁盘上是否还有待恢复的元素，

若有，将所述第二元素的所在反斜向校验链上下一个待恢复的元素替换为新的起始元素后转到步骤二；

若无，则结束。