[发明专利]一种电子设备的测试系统及其测试方法

摘要

本发明提供一种电子设备的测试系统及其测试方法。该系统包括控制装置、分别与控制装置连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，控制装置包括测试工具和自动化测试装置，测试方法包括采用自动化测试装置执行以下步骤：检测待测电子设备的连接状态，若连接成功则使待测电子设备进入待测模式；检测测试仪器的连接状态，若连接成功则对测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线；调用测试工具控制测试仪器对待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。本发明提高了测试仪器的利用率，进而提高了测试效率。

主权项

1.一种电子设备的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，所述测试仪器通过所述RF组线路切换器连接至所述待测电子设备，所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置，所述自动化测试装置包括：第一检测控制模块，用于检测所述待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；具体的，在控制装置上运行cmd指令，确定进入DOS窗口模式，在DOS窗口模式下输入待测电子设备的IP地址，如果返回的结果是timeout，则说明所述待测电子设备的物理连接不正常，需要重新连接；如果返回结果是通过，则说明所述待测电子设备的物理连接正常，此时通过Telnet协议与所述待测电子设备通信，向所述待测电子设备下发指令，控制所述待测电子设备进入测试模式；第二检测控制模块，用于检测所述测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；线路切换控制模块，用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；其中，控制装置通过MXI express并行总线连接所述RF组线路切换器，并通过NI MAX驱动所述RF组线路切换器；测试模块，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果；其中，所述测试工具包括art2测试工具，所述测试模块具体用于调用所述art2测试工具开启其中的cart进程，控制cart进程连接切入RF组线中的待测电子设备，并通过安装在控制装置上的驱动来控制测试仪器对待测电子设备进行RF衰减测试、无线功率测试和校准。