[发明专利]一种电子设备的测试系统及其测试方法

说明书

本发明提供一种电子设备的测试系统及其测试方法。该系统包括控制装置、分别与控制装置连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，控制装置包括测试工具和自动化测试装置，测试方法包括采用自动化测试装置执行以下步骤：检测待测电子设备的连接状态，若连接成功则使待测电子设备进入待测模式；检测测试仪器的连接状态，若连接成功则对测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线；调用测试工具控制测试仪器对待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。本发明提高了测试仪器的利用率，进而提高了测试效率。

技术领域

本发明属于自动化测试技术领域，尤其涉及一种电子设备的测试系统及其测试方法。

背景技术

高通无线芯片是无线局域网领域技术领先、增长最快的方案提供商之一，其产品类型覆盖了802.11b到802.11ac不同速率的所有无线模式，市场占有率仅次于博通系列，且在室外大功率和企业级公共无线产品方面占据着领导地位。高通无线芯片的测试是基于其自有的测试工具包art来实现的，现在已经升级到art2版本了，art2测试工具用脚本语言的形式以集成的测试方法成套的解决了高通无线芯片的功率、频偏的校准，信号的接收、发送等所有测试；但也因为其高集成的原因，无法通过底层接口去调整测试流程，因此，行业内普遍采用单机的测试方法，即测试仪器一次只能对一个高通无线芯片进行测试，所以目前的测试系统均为一个测试仪器对应一个高通无线芯片，这样测试仪器在测试完该高通无线芯片时，则需要将该高通无线芯片从测试系统中卸下，然后再将另一高通无线芯片装载进测试系统，并对需要对新装的高通无线芯片进行测试前的一系列准备工作，这样需要耗费大量的时间，导致测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种电子设备的测试系统及其测试方法，旨在解决上述测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种电子设备的测试系统，包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，所述测试仪器还通过所述RF组线路切换器连接至所述多个待测电子设备，所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置，所述自动化测试装置包括：

第一检测控制模块，用于检测所述待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；

第二检测控制模块，用于检测所述测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

线路切换控制模块，用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；

测试模块，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备电性连接。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试模块具体用于：

调用所述测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试工具为art2测试工具。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，还包括生产测试数据库，所述自动化测试装置还包括：