[发明专利]一种微纳米粒子性能参数的测量方法有效

专利信息
申请号: 201510263349.9 申请日: 2015-05-20
公开(公告)号: CN104880390B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 李皓;白鹏飞;林烈鑫;井一涵;周国富 申请(专利权)人: 华南师范大学;深圳市国华光电科技有限公司;深圳市国华光电研究院
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 代理人: 唐致明
地址: 510631 广东省广州市大学城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种微纳米粒子性能参数的测量方法,包括搭建一微纳米粒子性能参数的测量系统;该系统包括检测器皿,恒温控制调节器,超声模块,消声模块,信号分析处理模块,利用固液连续相介质中自由微纳米粒子对超声波的背向散射强度与入射强度比值,以及声压、粒子浓度、粒子尺寸、介质粘度、介质密度等参数来计算得到粒子的特征力学参数;本发明所述方法可以实现在同一测试系统和测试环境下对微纳米粒子的弹性系数和表面张力进行精确检测,为研究弹性系数和表面张力的关系提供精确的实验数据,因而可以更加深入地了解材料的特性,提高材料的使用寿命、质量。
搜索关键词: 一种 纳米 粒子 性能参数 测量方法
【主权项】:
一种微纳米粒子性能参数的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤10:搭建一微纳米粒子性能参数的测量系统,该测量系统包括:检测器皿,用于承载待检测的微纳米粒子;恒温控制调节器:用于控制、调节检测器皿内的温度达到所需的温度值;超声模块,用于将超声波发射至微纳米粒子,接收由微纳米粒子反射和散射的超声波回波信号,并将超声波回波信号传输至信息分析处理模块;消声模块,用于吸收检测器皿中多余的超声波信号;信号分析处理模块,用于对超声波回波信号进行处理得到微纳米粒子的背向散射强度,并基于特征公式求得微纳米粒子的表面张力和弹性系数;步骤20:制备微纳米粒子,并记录微纳米粒子个数、微纳米粒子的浓度;步骤30:向检测器皿内放置固液连续相介质,通过恒温控制器调节器皿内的温度达到所需温度,待温度稳定后,将所述微纳米粒子置于所述固液连续相介质中,并维持检测器皿内温度恒定;步骤40:控制超声模块向微纳米粒子发送所需频率的超声波,记录施加的声压,实时观测并记录微纳米粒子的半径变化情况;步骤50:超声模块接收由微纳米粒子反射和散射的超声波回波信号,并将超声波回波信号传输至信息分析处理模块;由信号分析处理模块对超声波回波信号进行处理得到微纳米粒子的背向散射强度;步骤60:信号分析处理模块基于特征公式求得微纳米粒子的表面张力和弹性系数。
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