[发明专利]一种微纳米粒子性能参数的测量方法

权利要求书

1.一种微纳米粒子性能参数的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤10：搭建一微纳米粒子性能参数的测量系统，该测量系统包括：

检测器皿，用于承载待检测的微纳米粒子；

恒温控制调节器：用于控制、调节检测器皿内的温度达到所需的温度值；

超声模块，用于将超声波发射至微纳米粒子，接收由微纳米粒子反射和散射的超声波回波信号，并将超声波回波信号传输至信息分析处理模块；

消声模块，用于吸收检测器皿中多余的超声波信号；

信号分析处理模块，用于对超声波回波信号进行处理得到微纳米粒子的背向散射强度，并基于特征公式求得微纳米粒子的表面张力和弹性系数；

步骤20：制备微纳米粒子，并记录微纳米粒子个数、微纳米粒子的浓度；

步骤30：向检测器皿内放置固液连续相介质，通过恒温控制器调节器皿内的温度达到所需温度，待温度稳定后，将所述微纳米粒子置于所述固液连续相介质中，并维持检测器皿内温度恒定；

步骤40：控制超声模块向微纳米粒子发送所需频率的超声波，记录施加的声压，实时观测并记录微纳米粒子的半径变化情况；

步骤50：超声模块接收由微纳米粒子反射和散射的超声波回波信号，并将超声波回波信号传输至信息分析处理模块；由信号分析处理模块对超声波回波信号进行处理得到微纳米粒子的背向散射强度；

步骤60：信号分析处理模块基于特征公式求得微纳米粒子的表面张力和弹性系数。

2.根据权利要求1所述一种微纳米粒子性能参数的测量方法，其特征在于：所述步骤S60中基于特征公式求得微纳米粒子的表面张力和弹性系数，其具体为：

弹性系数K_s由以下特征公式(1)和(2)计算出：

IsI=19*NVΣS---(1)]]>

ΣS=4π9K4R6{(KS-KK)2+13(3(ρS-ρL)2ρS+ρL)2}---(2)]]>

其中，I_s为微纳米粒子背向散射强度，I为入射声波的强度，N为微纳米粒子的个数，V为微纳米粒子的体积，∑S为单个散射微纳米粒子的有效散射面积，ρ_S为微纳米粒子的密度，ρ_L为介质的密度，K为气体多变指数，R为随时间变化的微纳米粒子的半径；

表面张力σ由以下特征公式(3)或者特征公式(4)或者特征公式(5)给出：

R∂2R∂t2+32(∂R∂t)2=1ρL[PG0(R0R)2k+PV-2σR-4ηL∂R∂tR-P0-pac(t)]---(3)]]>

(1-2∂R∂tc)R∂2R∂t2+32(1-4∂R∂t3c)(∂R∂t)2=(1+Rcddt)1ρL[PG0(R0R)3k+PV-2σR-4ηL∂R∂tR-P0-Pac(t)]]]>(4)]]>

(1-∂R∂tc)R∂2R∂t2+32(1-4∂R∂t3c)(∂R∂t)2=(1+∂R∂tc+Rcddt)1ρL[PG0(R0R)3k+PV-2σR-4ηL∂R∂tR-P0-Pac(t)]---(5)]]> 1

其中，ρ_L为介质的密度，R为随时间变化的粒子的半径，R₀为粒子的初始半径，P_V为粒子的内部压力,η_L为介质的动力粘度，P_O为流体静压力，P_ac(t)为声压，c为介质中超声波的速度，P_G0为粒子内部的压强。