[发明专利]取向膜检测装置及方法有效
| 申请号： | 201510257769.6 | 申请日： | 2015-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN104820302B | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 井杨坤;江昌俊 | 申请（专利权）人： | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 230012 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种取向膜检测装置及方法，其中所述取向膜检测装置包括：用于获取基板的取向膜上的配向沟槽的图像信息的图像成像单元；以及用于根据图像信息，判定取向膜上的配向沟槽是否存在缺陷的图像处理单元。本发明所提供的取向膜检测装置及方法，可以对基板上的取向膜的缺陷进行检测，通过图像成像单元可以获取基板上的取向膜的配向沟槽的图像信息，并利用图像处理单元根据所述图像信息进行识别处理，能准确判定各配向沟槽是否存在缺陷，与现有技术中采用蒸汽人工检测取向膜缺陷的方法相比，避免了人工对基板取向膜缺陷检测时，识别率较低，容易出现误检，且检测效率较低等问题，提高了检测效率以及检测结果的准确度和可信度。 | ||
| 搜索关键词： | 取向 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种取向膜检测装置，用于对形成在基板的取向膜上的配向沟槽进行检测，其特征在于，所述取向膜检测装置包括：用于获取基板的取向膜上的配向沟槽的图像信息的图像成像单元；以及，用于根据所述图像信息，判定取向膜上的配向沟槽是否存在缺陷的图像处理单元，所述图像处理单元与图像成像单元连接。
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