[发明专利]一种薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置在审

专利信息
申请号: 201510254665.X 申请日: 2015-05-18
公开(公告)号: CN104867985A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 刘翔 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置,由于在有源层与源漏电极之间设置有刻蚀阻挡层,该刻蚀阻挡层在与源漏电极接触的区域为金属或金属合金,以保证不用设置过孔就可以使源漏电极与有源层之间电连接;并且,通过氧化工艺将位于源电极与漏电极所在的区域之间的刻蚀阻挡层氧化为绝缘材料,保证当薄膜晶体管处于截止状态时源漏电极间是绝缘的,从而保证了薄膜晶体管可以正常工作。正是由于在上述薄膜晶体管中,在有源层与源漏电极之间设置有刻蚀阻挡层,因此刻蚀阻挡层不仅可以避免刻蚀源漏电极时对有源层造成破坏,并且可以防止有源层不受后续工艺的影响,例如水、氢、氧等对有源层产生影响,从而提升薄膜晶体管的性能。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 制备 方法 阵列 显示装置
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:衬底基板,依次位于所述衬底基板上的栅电极、栅极绝缘层、有源层、以及源漏电极,其特征在于,还包括:位于所述有源层与所述源漏电极之间的刻蚀阻挡层,所述刻蚀阻挡层在所述衬底基板的正投影与所述有源层在所述衬底基板的正投影重合;且位于所述源漏电极正下方的所述刻蚀阻挡层的材料为金属或金属合金,位于所述源漏电极中的源电极所在的区域与所述源漏电极中的漏电极所在的区域之间的所述刻蚀阻挡层的材料为所述金属或金属合金的氧化物,且所述金属或金属合金的氧化物为绝缘材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510254665.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top