[发明专利]用于大分子复合物的质谱分析的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201510236151.1 申请日: 2015-05-11
公开(公告)号: CN105097415B 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: M·别洛夫 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 沙永生,江磊
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种通过质谱法分析大分子复合物离子例如蛋白质复合物离子的方法,以及用于进行该方法的设备,其中该方法包括将大分子复合物离子引入第一碎裂装置,例如堆叠环形离子导向器(优选在10‑2至10‑1mbar下),并且将其中的复合物离子俘获持续俘获时间段(优选至少2ms);在该第一碎裂装置中将这些俘获的复合物离子碎裂,优选在100至300V能量下,以产生单体子单元离子;通过m/z任选地选择一种或多种子单元离子的种类;将这些子单元离子种类中的一种或多种引入第二碎裂装置中,该第二碎裂装置在空间上与该第一碎裂装置分开;在该第二碎裂装置中将这些子单元离子碎裂以产生这些子单元离子的多个第一碎片离子;并且在质量分析器中对这些第一碎片离子进行质量分析,或使这些第一碎片离子经受一个或多个另外的碎裂步骤以形成另外的碎片离子并且对这些另外的碎片离子进行质量分析。
搜索关键词: 用于 大分子 复合物 谱分析 方法 设备
【主权项】:
一种通过质谱法分析大分子复合物离子的方法,该方法包括:将大分子复合物离子引入第一碎裂装置中并且将其中的复合物离子俘获持续至少2ms的俘获时间段,每个大分子复合物离子包含多个在大分子该复合物离子中非共价地结合在一起的单体子单元,所述第一碎裂装置中的压力高于10‑2mbar;在该第一碎裂装置中将这些俘获的复合物离子碎裂以产生单体子单元离子,其中所述大分子复合物离子在该第一碎裂装置中经历在所述复合物离子的每个元电荷从200至300V的碰撞能量下的碰撞解离;通过m/z任选地选择一种或多种子单元离子的种类;将这些子单元离子种类中的一种或多种引入第二碎裂装置中,该第二碎裂装置在空间上与该第一碎裂装置分开;在该第二碎裂装置中将这些子单元离子碎裂以产生这些子单元离子的多个第一碎片离子;以及在质量分析器中对这些第一碎片离子进行质量分析,或使这些第一碎片离子经受一个或多个另外的碎裂步骤以形成另外的碎片离子并且对这些另外的碎片离子进行质量分析。
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