[发明专利]用于大分子复合物的质谱分析的方法和设备

权利要求书

1.一种通过质谱法分析大分子复合物离子的方法，该方法包括：

将大分子复合物离子引入第一碎裂装置中并且将其中的复合物离子俘获持续至少2ms的俘获时间段，每个大分子复合物离子包含多个在大分子该复合物离子中非共价地结合在一起的单体子单元，所述第一碎裂装置中的压力高于10^-2mbar；

在该第一碎裂装置中将这些俘获的复合物离子碎裂以产生单体子单元离子，其中所述大分子复合物离子在该第一碎裂装置中经历在所述复合物离子的每个元电荷从200至300V的碰撞能量下的碰撞解离；

通过m/z任选地选择一种或多种子单元离子的种类；

将这些子单元离子种类中的一种或多种引入第二碎裂装置中，该第二碎裂装置在空间上与该第一碎裂装置分开；

在该第二碎裂装置中将这些子单元离子碎裂以产生这些子单元离子的多个第一碎片离子；以及

在质量分析器中对这些第一碎片离子进行质量分析，或使这些第一碎片离子经受一个或多个另外的碎裂步骤以形成另外的碎片离子并且对这些另外的碎片离子进行质量分析。

2.如权利要求1所述的方法，其中这些引入的复合物离子是蛋白质复合物离子，这些单体子单元离子是蛋白质离子并且这些第一碎片种类是肽碎片。

3.如权利要求2所述的方法，其中这些蛋白质复合物离子具有大于0.5MDa的质量。

4.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中该第一碎裂装置包括堆叠环组件。

5.如权利要求1或2所述的方法，其中这些复合物离子从连续离子流被引入该第一碎裂装置中。

6.如权利要求1所述的方法，其中该第一碎裂装置中的压力是从10^-2mbar至10^-1mbar。

7.如权利要求1或2所述的方法，其中这些子单元离子在该第二碎裂装置中经历在每个元电荷从100至200V的碰撞能量下的碰撞解离。

8.如权利要求1或2所述的方法，其中该通过m/z选择一种或多种子单元的步骤通过滤质器进行，该滤质器定位在该空间上分开的第一和第二碎裂装置之间。

9.如权利要求8所述的方法，其中该滤质器是四极滤质器，该四极滤质器在仅RF模式下用叠加的辅助RF波形运行，该辅助波形作为偶极激发被施加在该四极杆的一对相对的电极之间并且该辅助RF波形的频谱典型地由具有最高达十个不同陷波的经调整的噪声组成，对应于在该四极杆质量分析器中的前体子单元离子的久期振荡的频率，并且在该频谱中的每个陷波的宽度是在1kHz至5kHz范围内。

10.如权利要求9所述的方法，其中多种前体离子同时传输穿过使用该RF波形的四极滤质器。

11.如权利要求1或2所述的方法，其中将这些大分子复合物离子作为连续流引入该第一碎裂装置中；该方法进一步包括：

将这些单体子单元离子作为包从该第一碎裂装置喷射到该第二碎裂装置；

重复在该第一碎裂装置中俘获这些复合物离子和将这些子单元离子包从该第一碎裂装置喷射的步骤以便在该第二碎裂装置中积累多个子单元离子包；

在该第二碎裂装置中将该积累的多个子单元离子包碎裂以产生这些子单元离子的第一碎片离子；以及

在该质量分析器中对这些第一碎片离子进行质量分析，或使这些第一碎片离子经受一个或多个另外的碎裂步骤以形成另外的碎片离子并且对这些另外的碎片离子进行质量分析。

12.如权利要求1或2所述的方法，其中该第二碎裂装置是离子阱。

13.如权利要求12所述的方法，其中该第二碎裂装置中的压力是从10^-4mbar至10^-1mbar。

14.如权利要求13所述的方法，其中该第二碎裂装置被分成不同地泵抽的压力区域，包括在10^-2-10^-1mbar下的较高压力区域和在10^-4mbar至10^-3mbar下的较低压力区域。

15.如权利要求14所述的方法，其中该较高压力区段定位为比该较低压力区段距该质量分析器更远。