[发明专利]光模块高低温测试系统有效
| 申请号： | 201510231035.0 | 申请日： | 2015-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN104917563B | 公开（公告）日： | 2017-08-11 |
| 发明（设计）人： | 袁家勇;张彩 | 申请（专利权）人： | 大连藏龙光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙)21236 | 代理人： | 于忠晶 |
| 地址： | 116000 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于光通信领域，具体涉及一种光模块测试系统。提出一种光模块高低温测试系统，包括测试台、测试门和箱体，测试台与测试门固定装配，并置于箱体内，测试门与箱体密封装配，所述测试台上设置有光模块测试单元，所述测试门上在正对光模块测试单元的位置处开设有操作口，所述箱体内设置有温度控制系统及制冷系统。本发明设计简洁，成本低，同时兼容XFP及SFP/SFP+的高低温测试，在XFP和SFP测试槽的相邻位置设置预冷槽，提前预冷，大大节约测试等待时间，提高了测试效率，解决了光模块低温测试的瓶颈，填补了当前光模块高低温测试系统的一个空白。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 低温 测试 系统 | ||
【主权项】：
光模块高低温测试系统，其特征在于：包括测试台、测试门和箱体，测试台与测试门固定装配，并置于箱体内，测试门与箱体密封装配，所述测试台上设置有光模块测试单元，所述测试门上在正对光模块测试单元的位置处开设有操作口，所述箱体内设置有温度控制系统及制冷系统；所述光模块测试单元包括XFP测试单元及SFP测试单元，XFP测试单元包括XFP测试槽及XFP预冷槽，SFP测试单元包括SFP测试槽及SFP预冷槽，XFP测试槽的深度为XFP模块高度的二分之一，其宽度控制在XFP模块宽度的正公差2mm范围内，XFP预冷槽的宽度与XFP测试槽的相同，其深度比XFP测试槽深2mm，SFP测试槽的深度为SFP模块高度的二分之一，其宽度控制在SFP模块宽度的正公差2mm范围内，SFP预冷槽的的宽度与SFP测试槽的相同，其深度比SFP测试槽深2mm。
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