[发明专利]光模块高低温测试系统

说明书

技术领域

本发明属于光通信领域，具体涉及一种光模块测试系统。

技术背景

光收发一体模块（XFP，SFP，SFP+，SFF等）是光纤接入网中不可缺少的核心部件。光收发一体模块（以下简称光模块）是实现光电及电光转换并具有独立发射驱动和接收放大电路的光电子系统，是一种集光发射器、光接收器和驱动电路板于一体的小型带电可插拔产品。光模块在光纤长距离通信中起到了光中继器的作用。光模块的测试是保证产品性能和质量的前提，能否进行完整准确的测试直接决定产品的质量和成本。光模块的测试工序比较多，包括常温初测，终测，高温测试，低温测试。目前光模块的高温测试通常是在加热台上进行，低温测试是在低温箱体内完成，常用的低温测试系统都是模块厂家进行治具的改造而成，且低温箱体一般体积比较大，操作不方便，每次只能测试一支产品，且由于制冷时间长，模块从常温到低温测试的等待时间也比较长，大概需要15分钟的预冷，才能完成5分钟的测试，测试效率低。目前还没有专用于光模块的高低温测试系统，因此，光模块的高低温测试一直是光模块生产的瓶颈，且市场上的制冷设备昂贵，导致光模块的测试成本较高。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明设计了一种光模块高低温测试系统，可实现标准光模块XFP及SFP/SFP+的高低温测试，有效提高了测试效率，且具有性价比高、性能稳定可靠、使用方便等优点，可广泛应用于光模块的生产领域中。

为实现上述目，本发明采用的技术方案为：提出一种光模块高低温测试系统，包括测试台、测试门和箱体，测试台与测试门固定装配，并置于箱体内，测试门与箱体密封装配，所述测试台上设置有光模块测试单元，所述测试门上在正对光模块测试单元的位置处开设有操作口，所述箱体内设置有温度控制系统及制冷系统。

所述测试台内部设置有制冷管道，制冷管道位于光模块测试单元的下方，制冷管道的进气孔连接制冷系统中的液氮接入管道。

所述光模块测试单元包括XFP测试单元及SFP测试单元。

所述XFP测试单元包括XFP测试槽及XFP预冷槽，SFP测试单元包括SFP测试槽及SFP预冷槽。

所述测试台上还设置有4个凸台，4个凸台分别采用螺钉与测试门固定装配。

所述操作口有两个，分别为XFP操作口及SFP操作口。

所述XFP操作口的长度为80mm，宽度为24mm，SFP操作口的长度为60mm，宽度为24mm。

所述测试台的两侧均设置有垫块。

本发明提出了一种低成本、高效率的光模块高低温测试系统。测试台上设置有标准光模块测试单元，可同时兼容XFP模块及SFP/SFP+模块的高低温测试，每个测试单元均设置有相邻的测试槽及预冷槽，在对一个光模块进行测试的同时，可对另一个待测光模块进行预冷，测试完成后就能进行下一个待测光模块的测试，大大缩短了测试等待时间，使得测试一个产品的时间由原来20分钟缩减到2分钟。作为进一步改进，在测试台内部的模块测试单元下方增设了制冷管道，液氮经液氮接入管道进入制冷管道，可直接对测试单元进行快速制冷，有利于缩短制冷时间，提高测试效率。

测试门上对应测试单元的位置处开设有操作口，方便对待测光模块进行操作。测试台与测试门装配好后放入箱体内，本发明的箱体尺寸为300mm*270mm*210mm，体积小，可直接放置于桌面上进行测试，方便测试人员的操作，箱体内设置有温度控制系统及制冷系统，可根据测试需要进行加热及制冷，并对箱体内的温度进行实时监测及控制，保证光模块的高低温测试环境。

本发明设计简洁，成本低，同时兼容XFP及 SFP/SFP+的高低温测试，在XFP和SFP测试槽的相邻位置设置预冷槽，对待测光模块提前预冷，大大节约测试等待时间，提高了测试效率，解决了光模块低温测试的瓶颈，填补了当前光模块高低温测试系统的一个空白。

附图说明

图1为本发明中测试台的结构示意图；

图2为本发明中测试门的结构示意图；

图3为本发明中测试台与测试门的组装侧面图；

图4 为本发明中箱体的结构示意图；

图5为本发明中带制冷管道测试台的结构示意图；

图6为本发明中制冷管道的结构示意图，

图中：1-XFP预冷槽，2-XFP测试槽，3- SFP预冷槽，4- SFP测试槽，5-垫块，6-上凸台，7-下凸台，8-XFP操作口，9- SFP操作口，10-测试台，11-测试门，12-温度显示屏，13-温度探测器，14-液氮接入管道，15-制冷管道，16-进气孔，17-出气孔。