[发明专利]一种检测晶体振荡器电路是否起振的方法和电路结构

摘要

本发明提供一种检测晶体振荡器电路是否起振的方法和电路结构，所述方法包括：采用环路增益仿真方法，设置所述频率发生器的扫描频率，给定所述环路电容、环路电感、反馈电阻、第一负载电容、第二负载电容的参数值，启动仿真过程，从所述环路电感、反馈电阻和晶体的共同引脚处获取环路增益曲线；然后改变所述反馈电阻、第一负载电容、第二负载电容的参数值，再一次启动仿真过程，从所述环路电感、反馈电阻和晶体的共同引脚出获取环路增益曲线；重复以上过程，从而快速检测出在每一组参数值条件下所述晶体振荡器电路是否起振。采用本发明的检测方法可以快速有效地检测晶体振荡电路是否起振，整个仿真时间短，硬件资源占用少、仿真结果合理。

主权项

1.一种检测晶体振荡器电路是否起振的电路结构，其特征在于，所述电路结构包括：晶体，所述晶体的两端分别连接第一负载电容和第二负载电容，所述第一负载电容和第二负载电容的另一端均连接至地；反馈电阻，所述反馈电阻并联于所述晶体的两端；反相放大器，所述反相放大器的输出端与所述反馈电阻的一端连接，所述反相放大器的输入端通过一环路电感与所述反馈电阻的另一端连接；环路电容，所述环路电容一端与所述反相放大器的输入端连接，另一端与一频率发生器连接。