[发明专利]一种检测晶体振荡器电路是否起振的方法和电路结构有效
| 申请号： | 201510201675.7 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN106156396B | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 陈艳;苏源;苏振江;郭振业;冯二媛 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 检测 晶体振荡器 电路 是否 方法 结构 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，未经中芯国际集成电路制造（上海）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510201675.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：气举阀阀杆行程测量装置及测量方法
- 下一篇：微量系列荧光石英比色杯装置
