[发明专利]用于绝缘体上硅射频开关器件结构的制造方法有效
申请号: | 201510189304.1 | 申请日: | 2015-04-17 |
公开(公告)号: | CN104733392B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 刘张李 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/8238 | 分类号: | H01L21/8238 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于绝缘体上硅射频开关器件结构的制造方法,包括形成绝缘体上硅射频开关器件的基本结构,基本结构包括在有源层中形成的源极区域、栅极区域和漏极区域,其中在栅极区域上形成了栅极氧化层和栅极多晶硅,有源层上覆盖有介质层,在介质层上形成有通过通孔分别与源极区域和漏极区域连接的源极金属布线和漏极金属布线;沉积介质材料并对沉积的介质材料进行平坦化处理,以使得介质层的厚度变大,其中介质材料完全覆盖源极金属布线和漏极金属布线;在介质层中刻蚀出位于源极金属布线和漏极金属布线之间的凹槽;在凹槽中部分地填充介质材料,以便在凹槽中形成被介质材料包围的空隙。 | ||
搜索关键词: | 用于 绝缘体 射频 开关 器件 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于绝缘体上硅射频开关器件结构的制造方法,其特征在于包括:首先,形成绝缘体上硅射频开关器件的基本结构,所述基本结构包括布置在衬底上的掩埋氧化物层上的有源层,所述有源层中形成有源极区域、栅极区域和漏极区域,而且在栅极区域上形成了栅极氧化层和栅极多晶硅,有源层上覆盖有介质层,在介质层上形成有通过通孔分别与源极区域和漏极区域连接的源极金属布线和漏极金属布线,其中,源极金属布线和漏极金属布线的厚度不大于其次,沉积介质材料并对沉积的介质材料进行平坦化处理,以使得介质层的厚度变大,其中厚度变大后的介质层的顶部与源极金属布线和漏极金属布线的顶部之间的距离介于之间,介质材料完全覆盖源极金属布线和漏极金属布线;随后,在介质层中刻蚀出位于源极金属布线和漏极金属布线之间的凹槽;此后,在凹槽中部分地填充介质材料,以便在凹槽中形成被介质材料包围的空隙。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510189304.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造