[发明专利]在ZnO单晶衬底上低温生长高质量ZnO薄膜材料的方法在审
| 申请号: | 201510158938.0 | 申请日: | 2015-04-03 |
| 公开(公告)号: | CN104790033A | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
| 发明(设计)人: | 汤琨;朱顺明;顾然;顾书林;叶建东;黄时敏;姚峥嵘;郑有炓 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
| 主分类号: | C30B29/16 | 分类号: | C30B29/16;C30B25/20 |
| 代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
| 地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 在ZnO单晶衬底上低温生长高质量ZnO薄膜材料的方法,包括如下步骤:1)选取ZnO单晶作为生长衬底;选取极性面是Zn极性面作为生长衬底;2)对衬底进行预处理;3)进行ZnO薄膜的低温生长;衬底表面温度400℃–500℃,采用二甲基锌和叔丁醇分别作锌源和氧源,高纯氮气作载气和稀释气,DMZn和t-BuOH的流速分别为10-40SCCM和100-400SCCM,生长过程中,反应腔压力为15–30kPa;生长时间决定膜的厚度,一般生长时间为15–60min;4)对生长的ZnO薄膜进行适当的原位热处理。 | ||
| 搜索关键词: | zno 衬底 低温 生长 质量 薄膜 材料 方法 | ||
【主权项】:
在ZnO单晶衬底上低温生长高质量ZnO薄膜材料的方法,其特征是包括如下步骤:1) 选取ZnO单晶作为生长衬底;选取适当极性面的ZnO单晶,所述适当极性面是Zn极性面[即(0001)面]作为生长衬底;2) 对衬底进行预处理;3)进行ZnO薄膜的低温生长;衬底表面温度400℃ – 500℃,采用二甲基锌(DMZn)和叔丁醇 (t‑BuOH)分别作锌源和氧源,高纯氮气(N2)作载气和稀释气,DMZn和t‑BuOH的流速分别为10 ‑ 40 SCCM和100 ‑ 400 SCCM,生长过程中,反应腔压力为15– 30 kPa;生长时间决定膜的厚度,一般生长时间为15 – 60 min;4) 对生长的ZnO薄膜进行适当的原位热处理,是指ZnO薄膜生长结束后,原位对ZnO薄膜进行的热处理过程,热处理温度为800– 900 oC,处理气氛为N2O,N2O流速为0.5 – 2 SLM,腔体压力是15 – 30 kPa,热处理时间为2 – 5 min。
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