[发明专利]一种可视化漏磁检测装置有效

专利信息
申请号: 201510136346.9 申请日: 2015-03-26
公开(公告)号: CN104764798B 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 程玉华;白利兵;邓力;周小东;陈凯;殷春;张杰 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种可视化漏磁检测装置,采用具有磁旋光特性并在底层即被测件一侧涂有反射膜的材料作为磁传感元件,以光源、CCD相机、两个凸透镜、两片偏振片构成光学图像采集系统实现漏磁的可视化检测。由于检测引入光作为信息的载体,所以漏磁图像即反射光斑对漏磁的空间分辨率很高。本发明可视化漏磁检测装置一次成像的面积只受到CCD相机传感器和磁敏感元件的有效面积限制,相对于GMR等传统漏磁检测方法,检测效率能够大大提高。同时通过控制起偏镜即第一偏振片的偏振方向和调节入射光线的入射角度,使入射光线在磁光薄膜表明发生全透射即全部进入磁光薄膜中,从而避免表面反射光的干扰,进而大大提高检测灵敏度。
搜索关键词: 一种 可视化 检测 装置
【主权项】:
1.一种可视化漏磁检测装置,其特征在于,包括:具有磁旋光特性的磁光薄膜,该磁光薄膜的底面即铁磁材料被测件一侧涂有反射膜,以作为磁传感元件;磁场产生装置,用于产生磁场并作用于被测件;光源、第一凸透镜以及第一偏振片,第一凸透镜将光源发出散射光聚集成平行光线,并作为入射光线;入射光线经过第一偏振片进行起偏方向调整后,入射到磁光薄膜中,然后经过其底层的反射膜反射后得到反射光线,反射光线穿出磁光薄膜后,到达第二偏振片;第二偏振片、第二凸透镜以及CCD相机,第二偏振片对到达的反射光线进行调整,得到带有漏磁信息的线偏振光,然后经过第二凸透镜聚集到CCD相机形成具有明暗区域的反射光斑,该反射光斑间接地反映了漏磁的水平分布即缺陷情况,从而到达漏磁的可视化检测;所述的第一偏振片作为起偏镜,采用与入射面共面且垂直于入射光线的方向作为起偏镜起偏方向;所述的入射光线与磁光薄膜的入射角:其中,n1为光在空气中的折射率,n2为光在磁光薄膜中的折射率。
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