[发明专利]一种可视化漏磁检测装置有效
申请号: | 201510136346.9 | 申请日: | 2015-03-26 |
公开(公告)号: | CN104764798B | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 程玉华;白利兵;邓力;周小东;陈凯;殷春;张杰 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可视化 检测 装置 | ||
1.一种可视化漏磁检测装置,其特征在于,包括:
具有磁旋光特性的磁光薄膜,该磁光薄膜的底面即铁磁材料被测件一侧涂有反射膜,以作为磁传感元件;
磁场产生装置,用于产生磁场并作用于被测件;
光源、第一凸透镜以及第一偏振片,第一凸透镜将光源发出散射光聚集成平行光线,并作为入射光线;入射光线经过第一偏振片进行起偏方向调整后,入射到磁光薄膜中,然后经过其底层的反射膜反射后得到反射光线,反射光线穿出磁光薄膜后,到达第二偏振片;
第二偏振片、第二凸透镜以及CCD相机,第二偏振片对到达的反射光线进行调整,得到带有漏磁信息的线偏振光,然后经过第二凸透镜聚集到CCD相机形成具有明暗区域的反射光斑,该反射光斑间接地反映了漏磁的水平分布即缺陷情况,从而到达漏磁的可视化检测;
所述的第一偏振片作为起偏镜,采用与入射面共面且垂直于入射光线的方向作为起偏镜起偏方向;
所述的入射光线与磁光薄膜的入射角:
其中,n1为光在空气中的折射率,n2为光在磁光薄膜中的折射率。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,第二偏振片物理结构与第一偏振片物理结构完全相同,并且其偏振方向与反射面共面且垂直于反射光线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510136346.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。