[发明专利]一种可视化漏磁检测装置有效

专利信息
申请号: 201510136346.9 申请日: 2015-03-26
公开(公告)号: CN104764798B 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 程玉华;白利兵;邓力;周小东;陈凯;殷春;张杰 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 可视化 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种可视化漏磁检测装置,其特征在于,包括:

具有磁旋光特性的磁光薄膜,该磁光薄膜的底面即铁磁材料被测件一侧涂有反射膜,以作为磁传感元件;

磁场产生装置,用于产生磁场并作用于被测件;

光源、第一凸透镜以及第一偏振片,第一凸透镜将光源发出散射光聚集成平行光线,并作为入射光线;入射光线经过第一偏振片进行起偏方向调整后,入射到磁光薄膜中,然后经过其底层的反射膜反射后得到反射光线,反射光线穿出磁光薄膜后,到达第二偏振片;

第二偏振片、第二凸透镜以及CCD相机,第二偏振片对到达的反射光线进行调整,得到带有漏磁信息的线偏振光,然后经过第二凸透镜聚集到CCD相机形成具有明暗区域的反射光斑,该反射光斑间接地反映了漏磁的水平分布即缺陷情况,从而到达漏磁的可视化检测;

所述的第一偏振片作为起偏镜,采用与入射面共面且垂直于入射光线的方向作为起偏镜起偏方向;

所述的入射光线与磁光薄膜的入射角:

其中,n1为光在空气中的折射率,n2为光在磁光薄膜中的折射率。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,第二偏振片物理结构与第一偏振片物理结构完全相同,并且其偏振方向与反射面共面且垂直于反射光线。

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