[发明专利]薄片体检测装置的检查方法、薄片体检测装置和检查装置有效

专利信息
申请号: 201510130609.5 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN104950347B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 齋木胜志 申请(专利权)人: 京瓷办公信息系统株式会社
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00;G01V8/10;G01S17/08
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 代理人: 鹿屹,李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供薄片体检测装置的检查方法、薄片体检测装置、图像处理装置和检查装置,能防止或抑制因反射型光学传感器的输出产生误差而导致薄片体误检测。本发明的薄片体检测装置的控制部使发光器以指定发光量发光,判断检测区域是否存在第一基准薄片体,当不存在第一基准薄片体时,使薄片体检测传感器向上方移动指定的移动间距。当存在第一基准薄片体时,存储薄片体检测传感器和第一基准薄片体的当前时刻的检测距离。控制部对第二基准薄片体也进行同样处理。控制部在各检测距离都适当时,判断薄片体检测传感器的输出适当,将当前时刻的发光量设为原稿检测处理时的发光量,在并非各检测距离都适当时,判断所述输出非适当,使发光器的发光量增大一级。
搜索关键词: 薄片 体检 装置 检查 方法
【主权项】:
一种薄片体检测装置的检查方法,用于检查薄片体检测装置,所述薄片体检测装置通过比较反射型光学传感器的输出和预定的阈值来判断检测区域有无作为检测对象的薄片体,所述反射型光学传感器输出与所述薄片体的图像浓度和所述反射型光学传感器到所述薄片体的距离相对应的信号,所述薄片体检测装置的检查方法的特征在于,包括:第一步骤,通过使所述反射型光学传感器相对于所述薄片体在接近远离方向上移动,从而边变更具有预定的图像浓度的基准薄片体和所述反射型光学传感器的距离,边由所述薄片体检测装置对所述基准薄片体进行检测动作,在从所述薄片体检测装置输出表示检测到所述基准薄片体的内容的薄片体检测信号时,检测此时的所述反射型光学传感器和所述基准薄片体的距离;第二步骤,判断由所述第一步骤检测出的检测距离与预定的基准值是否一致;以及第三步骤,当由所述第二步骤判断出在所述第一步骤中检测出的检测距离与所述基准值不一致时,变更所述反射型光学传感器所包含的发光器的发光量,直到由所述第二步骤判断出在所述第一步骤中检测出的检测距离与所述基准值一致为止,重复执行所述第一步骤至第三步骤。
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