[发明专利]薄片体检测装置的检查方法、薄片体检测装置和检查装置有效

专利信息
申请号: 201510130609.5 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN104950347B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 齋木胜志 申请(专利权)人: 京瓷办公信息系统株式会社
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00;G01V8/10;G01S17/08
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 代理人: 鹿屹,李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 薄片 体检 装置 检查 方法
【权利要求书】:

1.一种薄片体检测装置的检查方法,用于检查薄片体检测装置,所述薄片体检测装置通过比较反射型光学传感器的输出和预定的阈值来判断检测区域有无作为检测对象的薄片体,所述反射型光学传感器输出与所述薄片体的图像浓度和所述反射型光学传感器到所述薄片体的距离相对应的信号,

所述薄片体检测装置的检查方法的特征在于,包括:

第一步骤,通过使所述反射型光学传感器相对于所述薄片体在接近远离方向上移动,从而边变更具有预定的图像浓度的基准薄片体和所述反射型光学传感器的距离,边由所述薄片体检测装置对所述基准薄片体进行检测动作,在从所述薄片体检测装置输出表示检测到所述基准薄片体的内容的薄片体检测信号时,检测此时的所述反射型光学传感器和所述基准薄片体的距离;

第二步骤,判断由所述第一步骤检测出的检测距离与预定的基准值是否一致;以及

第三步骤,当由所述第二步骤判断出在所述第一步骤中检测出的检测距离与所述基准值不一致时,变更所述反射型光学传感器所包含的发光器的发光量,

直到由所述第二步骤判断出在所述第一步骤中检测出的检测距离与所述基准值一致为止,重复执行所述第一步骤至第三步骤。

2.根据权利要求1所述的薄片体检测装置的检查方法,其特征在于,

所述基准薄片体包括图像浓度不同的第一基准薄片体和第二基准薄片体,

对所述第一基准薄片体和所述第二基准薄片体执行所述第一步骤至第三步骤,

所述基准值是二维坐标系中预定的直线上的坐标所表示的距离,所述二维坐标系以针对所述第一基准薄片体检测出的检测距离和针对所述第二基准薄片体检测出的检测距离为变量,

所述第二步骤判断坐标点是否为所述直线上的坐标,所述坐标点对应于由所述第一步骤分别检测出的针对所述第一基准薄片体的检测距离和针对所述第二基准薄片体的检测距离的组合。

3.一种薄片体检测装置,其特征在于,包括:

薄片体检测部,通过比较反射型光学传感器的输出和预定的阈值,来判断检测区域有无作为检测对象的薄片体,所述反射型光学传感器输出与所述薄片体的图像浓度和所述反射型光学传感器到所述薄片体的距离相对应的信号;

支撑部,将所述反射型光学传感器支撑成能相对于所述薄片体在接近远离方向上移动;

驱动部,在所述接近远离方向上驱动所述反射型光学传感器;

第一控制部,使所述驱动部变更所述薄片体和所述反射型光学传感器的距离;

第二控制部,控制所述反射型光学传感器所包含的发光器的发光量;

距离检测部,通过利用所述第一控制部的控制使所述反射型光学传感器在所述接近远离方向上移动,从而边变更具有预定的图像浓度的基准薄片体和所述反射型光学传感器的距离,边由所述薄片体检测部对所述基准薄片体进行检测动作,当由所述薄片体检测部输出表示检测到所述基准薄片体的内容的薄片体检测信号时,检测此时的所述反射型光学传感器和所述基准薄片体的距离;

判断部,判断由所述距离检测部检测出的检测距离与预定的基准值是否一致,

在由所述判断部判断出所述距离检测部所检测出的所述检测距离与所述基准值不一致时,所述第二控制部变更所述发光器的发光量,直到由所述判断部判断出所述距离检测部所检测出的检测距离与所述基准值一致为止,所述第二控制部重复执行所述发光量的变更。

4.根据权利要求3所述的薄片体检测装置,其特征在于,

所述基准薄片体包括图像浓度不同的第一基准薄片体和第二基准薄片体,

所述距离检测部和所述判断部针对所述第一基准薄片体和所述第二基准薄片体分别进行动作,

所述基准值是二维坐标系中预定的直线上的坐标所表示的距离,所述二维坐标系以针对所述第一基准薄片体检测出的检测距离和针对所述第二基准薄片体检测出的检测距离为变量,

所述判断部判断坐标点是否为所述直线上的坐标,所述坐标点对应于由所述距离检测部分别检测出的针对所述第一基准薄片体的检测距离和针对所述第二基准薄片体的检测距离的组合。

5.根据权利要求3或者4所述的薄片体检测装置,其特征在于,

所述薄片体和所述基准薄片体在玻璃板的表面上输送或者被放置在玻璃板的表面上,

所述反射型光学传感器从所述玻璃板的背面侧检测所述薄片体和所述基准薄片体。

6.一种检查装置,构成为能够与薄片体检测装置进行通信,对所述薄片体检测装置进行检查,所述薄片体检测装置包括:反射型光学传感器,输出与作为检测对象的薄片体的图像浓度和所述反射型光学传感器到所述薄片体的距离相对应的信号;支撑部,将所述反射型光学传感器支撑成能相对于所述薄片体在接近远离方向上相对移动;以及驱动部,在所述接近远离方向上驱动所述反射型光学传感器,所述薄片体检测装置通过比较所述反射型光学传感器的输出和预定的阈值,来判断检测区域有无所述薄片体,

所述检查装置的特征在于,包括:

第一控制部,使所述驱动部变更所述薄片体和所述反射型光学传感器的距离;

第二控制部,控制所述反射型光学传感器所包含的发光器的发光量;

距离检测部,通过利用所述第一控制部的控制使所述反射型光学传感器在所述接近远离方向上移动,从而边变更具有预定的图像浓度的基准薄片体和所述反射型光学传感器的距离,边由所述薄片体检测装置对所述基准薄片体进行检测动作,当由所述薄片体检测装置输出表示检测到所述基准薄片体的内容的薄片体检测信号时,检测此时的所述反射型光学传感器和所述基准薄片体的距离;以及

判断部,判断由所述距离检测部检测出的检测距离与预定的基准值是否一致,

在由所述判断部判断出所述距离检测部所检测出的所述检测距离与所述基准值不一致时,所述第二控制部变更所述发光器的发光量,直到由所述判断部判断出所述距离检测部所检测出的检测距离与所述基准值一致为止,所述第二控制部重复执行所述发光量的变更。

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