[发明专利]一种旋控磁轭式永磁探伤仪及使用其进行工件探伤的方法有效
| 申请号： | 201510107962.1 | 申请日： | 2015-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN104677982B | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 韩宝顺 | 申请（专利权）人： | 天津阿斯米工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 北京中企鸿阳知识产权代理事务所(普通合伙)11487 | 代理人： | 刘葛,郭鸿雁 |
| 地址： | 300452 天津市滨海新*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪及使用其进行工件探伤的方法涉及一种工件检测设备和方法。其目的是为了提供一种在对工件表面进行无损检测时，检测误差较低的检测设备。本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪，包括主体、两个调节支架、两个探脚；所述主体的左右两端分别向下设置有一个支架；所述各支架的下端分别对应铰接一个调节支架；所述各调节支架的下端又分别对应铰接一个探脚；所述各探脚的底端开有一缺口。本发明一种对工件进行探测的方法包括探伤仪参数验证、实施检测两大步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 旋控磁轭式 永磁 探伤 使用 进行 工件 方法 | ||
【主权项】：
一种旋控磁轭式永磁探伤仪，包括：主体、两个调节支架、两个探脚；所述主体的左右两端分别向下设置有一个支架；各支架的下端分别对应铰接一个调节支架；各调节支架的下端又分别对应铰接一个探脚；其特征在于：各探脚的底端开有一缺口；所述探脚底端缺口的纵截面形状为圆弧形或者多边折线形；所述探脚包括脚杆与探头；其中所述脚杆与探头为可拆卸式连接；所述脚杆与所述调节支架的下端铰接，所述探头的下端开有所述缺口。
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