[发明专利]一种旋控磁轭式永磁探伤仪及使用其进行工件探伤的方法有效
| 申请号: | 201510107962.1 | 申请日: | 2015-03-12 |
| 公开(公告)号: | CN104677982B | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
| 发明(设计)人: | 韩宝顺 | 申请(专利权)人: | 天津阿斯米工程技术有限公司 |
| 主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84 |
| 代理公司: | 北京中企鸿阳知识产权代理事务所(普通合伙)11487 | 代理人: | 刘葛,郭鸿雁 |
| 地址: | 300452 天津市滨海新*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 旋控磁轭式 永磁 探伤 使用 进行 工件 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种工件检测设备,以及使用该检测设别对工件进行探测的方法。
背景技术
磁粉探伤仪又称便携式探伤仪,其采用可控硅作无触点开关,噪音小、寿命长、操作简单方便、适用性强,工作稳定。按磁化方式分为电磁轭探伤仪、旋转磁场探伤仪,按电流分为交流、直流、交直流两用型等磁粉探伤仪,直流供电电源为可充电电池,适用于野外无电源现场操作以及高压不能进入的容器、桥梁、管道等现场操作,一次充电连续工作时间可达6小时以上。交流供电电源采用~220V电源直接输入,无需其他仪器配套,操作方便、简单、重量轻、便于携带,因而该仪器得到广泛使用。
中国专利CN103543198公开了一种旋控磁轭式永磁探伤仪,该专利由探脚、软磁性件、强磁性件、旋钮开关、压盖、手把及非磁性件组成;探脚安装在软磁性件底部,强磁性件安装在两块软磁性件中间,两块软磁性件被非磁性件隔开,压盖安装在软磁性件上,手把通过手把片安装在软磁性件顶部。该专利有效解决了永探伤仪通磁、断磁困难的问题。不过其也与市场上的其它同类产品存在着同样的问题:如图5所示,探脚与工件的接触面为线接触,由接触线向工件左右两侧的磁化能力渐弱,如果使用这种探伤仪对曲面工件探测时,工件表面被磁化的程度不均匀,会出现较大的误差。
发明内容
本发明主要要解决的技术问题是提供一种在对工件表面进行无损检测时,检测误差较低的旋控磁轭式永磁探伤仪。
本发明进一步要解决的技术问题是提供一种可以对不同外形的工件均能精准检测的旋控磁轭式永磁探伤仪
本使用新型进一步要解决的技术问题是提供一种结构简单、便于更换探头的旋控磁轭式永磁探伤仪,以便对不同外形的工件均能精准检测。
本发明另外主要要解决的技术问题是提供一种对工件表面质量检测精度更高的方法:
本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪,包括:主体、两个调节支架、两个探脚;
所述主体的左右两端分别向下设置有一个支架;各支架的下端分别对应铰接一个调节支架;各调节支架的下端又分别对应铰接一个探脚;
各探脚的底端开有一缺口。
本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪,其中所述探脚底端缺口的纵截面形状为圆弧形或者多边折线形。
本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪,其中所述探脚包括脚杆与探头;其中所述脚杆与探头为可拆卸式连接;所述脚杆与所述调节支架的下端铰接,所述探头的下端开有所述缺口。
本发明一种旋控磁轭式永磁探伤仪,其中所述脚杆的下端设置凸台,所述探头的上端设置有与所述凸台相对应的凹槽,且于所述凸台、凹槽的侧面分别开有相互对应的通孔;所述脚杆与探头通过所述凸台与凹槽的配合以及螺栓与所述通孔的配合固为一体。
本发明一种对工件进行探伤的方法如下:
A.探伤仪参数验证:
a提升力验证
a)首先选取一个标准试块,该标准试块具有特定的重量,且该标准试块的表面形状与待检测工件的表面形状相同;同时还要选取两种具有不同缺口形状的探头,分别记为X探头、Y探头;
b)选用X探头作为提升探头,并将该X探头组装在探伤仪上;
c)将探伤仪的X探头与上述标准试块在横向方向上充分接触,探伤仪接通电源后将探伤仪向上提起。如果提起探伤仪的过程中标准试块也被同时提起则,则装有X探头的探伤仪的提升力满足要求,否则反之。
d)选用Y探头作为提升探头,并将该Y探头组装在探伤仪上;
e)将探伤仪Y探头与上述标准试块在纵向方向上充分接触,探伤仪接通电源后将探伤仪向上提起。如果提起探伤仪的过程中标准试块也被同时提起则,则装有Y探头的探伤仪的提升力满足要求,否则反之。
b灵敏度验证
a)首先选取一个灵敏度试片,该灵敏度试片具有标准的刻槽缺陷;
b)将装有X探头的探伤仪的两个探头分别在横向方向上与待检测工件充分接触,并将上述灵敏度试片放置在两个探头之间的区域;
c)探伤仪接通电源对灵敏度试片进行磁化,磁化次数为2~3次;为了清楚地显现对灵敏度试片磁化的效果,在磁化过程中还需要对灵敏度试片表片喷洒磁悬液,如果经磁化后的灵敏度试片表面具有清晰地磁痕,则该探伤仪的灵敏度满足要求,否则反之。
d)将装有Y探头的探伤仪的两个探头分别在纵向方向上与待检测工件充分接触,并将上述灵敏度试片放置在两个探头之间的区域;
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