[发明专利]一种基于金属钨电极的微细电火花并行加工方法在审
申请号: | 201510098307.4 | 申请日: | 2015-03-05 |
公开(公告)号: | CN104803344A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 陈兢;陈献;宋璐 | 申请(专利权)人: | 苏州含光微纳科技有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 邵可声 |
地址: | 215125 江苏省苏州市工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于金属钨电极的微细电火花并行加工方法。制备钨电极时,首先在钨基片表面溅射硬掩膜;然后在硬掩膜上涂覆光刻胶,并对光刻胶进行曝光和显影,完成光刻胶的图形化;然后将光刻胶作为掩膜,对硬掩膜进行干法刻蚀,实现掩膜图形化的转移;然后去除光刻胶,采用等离子体深刻蚀方法进行钨电极或钨阵列电极的深刻蚀;去除硬掩膜后得到钨电极或钨阵列电极。在深刻蚀制备钨微细电极基础上,结合微细电火花加工特点,本发明能批量加工微米级复杂形状零件,而且并行批量加工的效率与精度均很高,在微细加工领域具有广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 金属 电极 微细 电火花 并行 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种金属钨电极的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1)在钨基片表面溅射硬掩膜;2)在硬掩膜上涂覆光刻胶,并对光刻胶进行曝光和显影,完成光刻胶的图形化;3)将光刻胶作为掩膜,对硬掩膜进行干法刻蚀,实现掩膜图形化的转移;4)去除硬掩膜上的光刻胶,采用等离子体深刻蚀方法进行钨电极或钨阵列电极的深刻蚀;5)去除硬掩膜,得到钨电极或钨阵列电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州含光微纳科技有限公司,未经苏州含光微纳科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510098307.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。