[发明专利]ICP发光分光分析装置在审
| 申请号： | 201510088056.1 | 申请日： | 2015-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN104949962A | 公开（公告）日： | 2015-09-30 |
| 发明（设计）人： | 田边英规 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供ICP发光分光分析装置，其通过与所测定的波长相应的适当的会聚透镜位置将原子发光线的损耗限制到最小限。ICP发光分光分析装置(1)大致由感应耦合等离子产生部(10)、会聚部(20)、分光器(30)和控制部(50)构成。会聚部(20)配置于感应耦合等离子产生部(10)与分光器(30)之间，具备会聚透镜(21)、入射窗(22)、驱动部(23)和位置运算部(24)。位置运算部(24)根据预先输入到控制部(50)的原子发光线的波长，运算会聚透镜(21)相对于感应耦合等离子产生部(10)以及分光器(30)在原子发光线的行进方向上的最优位置。驱动部(23)根据运算部(24)的运算结果使会聚透镜(21)移动到相对于特定波长最优化的位置。 | ||
| 搜索关键词： | icp 发光 分光 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种ICP发光分光分析装置，具备：感应耦合等离子产生部，其利用感应耦合等离子对分析对象元素进行原子化或离子化，得到原子发光线；会聚透镜，其会聚所述原子发光线；分光器，其在隔着入射窗导入所述原子发光线之后，对所述原子发光线进行分光检测；位置运算部，其根据所述原子发光线的波长，运算所述会聚透镜相对于所述感应耦合等离子产生部以及所述分光器在所述原子发光线的行进方向上的最优位置；和驱动部，其根据所述最优位置，使所述会聚透镜相对于所述感应耦合等离子产生部以及所述分光器相对地进行移动。
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