[发明专利]ICP发光分光分析装置

权利要求书

1.一种ICP发光分光分析装置，具备：

感应耦合等离子产生部，其利用感应耦合等离子对分析对象元素进行原子化或离子化，得到原子发光线；

会聚透镜，其会聚所述原子发光线；

分光器，其在隔着入射窗导入所述原子发光线之后，对所述原子发光线进行分光检测；

位置运算部，其根据所述原子发光线的波长，运算所述会聚透镜相对于所述感应耦合等离子产生部以及所述分光器在所述原子发光线的行进方向上的最优位置；和

驱动部，其根据所述最优位置，使所述会聚透镜相对于所述感应耦合等离子产生部以及所述分光器相对地进行移动。

2.根据权利要求1所述的ICP发光分光分析装置，其中，

当设从所述会聚透镜的中心点到由所述感应耦合等离子产生部生成的所述感应耦合等离子的水平距离为A、设从所述会聚透镜的中心点到所述入射窗的水平距离为B、设根据所述原子发光线的波长决定的所述会聚透镜的焦点距离为F时，所述位置运算部运算1/A+1/B＝1/F成立的所述会聚透镜的位置作为所述最优位置。