[发明专利]一种微环芯片驱动电路性能测试装置

摘要

本发明属于光纤通信技术领域，针对现有微环芯片驱动电路性能的纯电域测试方法的不足，提供一种微环芯片驱动电路性能测试装置，包括计算机测试平台单元、双路驱动/选择单元以及光芯片传输系统单元，其特征在于，在计算机测试平台单元中的控制信号发生模块的控制下，双路驱动/选择单元交替地输出电信号来驱动光芯片传输系统单元中的微环芯片，光芯片传输系统单元输出的信号由计算机测试平台单元中的数据处理模块接收，并根据微环芯片的光谱特性获取双路驱动/选择单元中待测驱动电路的性能参数。本发明可直接在光路中测试微环芯片驱动电路的噪声、稳定性和电压精度等，该装置也可用于微环芯片温度不断变化的情形，从而大大降低了测试环境的要求。

主权项

一种微环芯片驱动电路性能测试装置，包括计算机测试平台单元、双路驱动/选择单元以及光芯片传输系统单元；其中，所述计算机测试平台单元由数据处理模块和控制信号发生模块组成，所述双路驱动/选择单元由待测驱动电路模块、参考电流/电压源表模块和2×1选择开关模块组成，所述光芯片传输系统单元由微环芯片模块、可调激光器模块和光电A/D转换器模块组成；所述控制信号发生模块是整个装置的控制中心，连接控制2×1选择开关模块、待测驱动电路模块、参考电流/电压源表模块、数据处理模块和可调激光器模块实现相应的功能；参考电流/电压源表模块和待测驱动电路模块分别独自产生驱动信号，输入2×1选择开关模块，2×1选择开关模块输出从这两路驱动信号中交替选择一路驱动信号来驱动微环芯片；可调激光器模块作为测试光源，光电A/D转换器模块将微环芯片模块输出的光信号转换为电信号并传输给数据处理模块；数据处理模块对光电A/D转换器模块输出信号进行处理，得出待测驱动电路性能的参数。