[发明专利]一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法有效
| 申请号: | 201510033744.8 | 申请日: | 2015-01-23 |
| 公开(公告)号: | CN104596544B | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
| 发明(设计)人: | 刘杨 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
| 主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01S19/23 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人: | 杨学明,顾炜 |
| 地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法,所述方法适用于电离层闪烁下,航空飞行过程中,导航性能由导航误差、导航完好性和可用性等参数来描述,导航性能预测结果由航空导航终端计算。通过建立电离层闪烁参数与导航接收机的跟踪环路之间的映射关系,来分析闪烁环境下的导航测距误差和平均失锁时间,计算导航失锁频度。根据航空用户轨迹和飞行运行需求,对导航精度、自主完好性及可用性进行评估。本方法的优势为可在电离层闪烁时任意场景和设定参数下,提供准确的航空导航性能参数计算及预测结果,以确保航空导航的有效性和安全性,该方法同样可用于评估各种航空导航终端受电离层闪烁的影响程度,为高性能航空导航终端的研制提供理论和实证依据。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 电离层 闪烁 航空 导航 性能 预测 方法 | ||
【主权项】:
一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法,其特征在于,该方法步骤如下:步骤A、设定电离层闪烁的幅度闪烁和相位闪烁参数,设定导航信号的种类;步骤B、建立导航接收机的跟踪环路模型,并计算跟踪码伪距测量误差和载波相位测量误差;步骤C、对所测量的误差进行后置滤波,获得导航接收机的输出测量误差;步骤D、根据所设定的电离层闪烁参数和所建立的导航接收机跟踪环路模型,计算跟踪环路的平均失锁时间;步骤E、建立平均失锁时间关于电离层闪烁下导航信号中断频度的关联表达式,计算导航信号失锁频度;步骤F、根据用户飞行轨迹、飞行时间计算导航卫星位置,获得卫星的几何参数;步骤G、根据具体的飞行运行需求,计算导航终端的自主完好性监测可用性预测;步骤H、计算飞行过程中的导航保护级,将其与运行需求中所规定的导航告警限进行比较,判断是否可用;步骤I、根据设定时间段的导航性能参数计算结果,对该时间段的导航可用性进行预测。
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