[发明专利]一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法有效

专利信息
申请号: 201510033744.8 申请日: 2015-01-23
公开(公告)号: CN104596544B 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 刘杨 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01S19/23
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 代理人: 杨学明,顾炜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电离层 闪烁 航空 导航 性能 预测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及航空导航性能评估领域,具体涉及一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法。

背景技术

电离层闪烁是指电波信号穿越电离层时由于电离层等离子体结构的不均匀和时空非平稳而引起的电波幅度、相位和时延的波动。强电离层闪烁则会引起大规模的导航通信中断。历史数据表明,2003年10月下旬到11月上旬出现的电离层风暴和强闪烁现象曾导致美国的广域增强系统(WAAS,Wide Area Argumentation System)关闭长达30小时,严重影响其内陆航空运输。为解决上述问题,研究电离层闪烁对航空导航性能的影响成为近年来相关领域的热点和难点。目前而言,开展电离层闪烁对导航性能影响的研究主要依赖于实验方法,由于电离层闪烁事件具有较强的突发性和无规则性,其实验数据获取难度大,导致其研究无法普适化。而航空密集流量、复杂环境下高安全性运行对其导航终端的性能要求不断提升,在此情况下,如何对电离层闪烁下的航空导航性能进行准确预测,成为亟待突破的技术难题。

根据国际民用航空所需性能导航(Performance Based Navigation)的规定,航空导航性能主要包括精度、完好性、连续性和可用性。理论而言,导航误差是评估导航性能的重要参数。传统的导航性能预测方法往往基于基本的导航误差特点,分别独立去评估和预测各种导航性能。事实上,导航环境和导航信号接收模型不但影响导航误差本身,还使得各种导航性能之间存在较强的相关性。在电离层闪烁下,导航信号传播的电磁环境受到较大的改变,这使得传统的导航信号接收模型存在局限性,同样也改变了导航误差的一些统计特性,在此情况下,传统的导航性能预测方法将失效。尽管部分研究人员针对特定的场景,通过飞行实验等方法获得了电离层闪烁下导航误差的统计经验参数,但该方法不具有强普适性,导致其它研究人员在从事该研究过程中仍面临较多障碍。因此,设计并实现普适、自主、灵活的电离层闪烁下航空导航性能预测的方法是本领域研究人员致力解决的难题之一。

发明内容

本发明要解决的技术问题为:克服现有技术的不足,提出一种电离层闪烁下航空导航性能预测方法,建立导航环境关联表征的导航接收机跟踪环路模型,进而计算导航量测误差和导航跟踪环路的平均失锁时间,由平均失锁时间来推演电离层闪烁导致导航信号跟踪失锁的频次,建立该频次的统计模型,再结合用户飞行轨迹、飞行时间对用户的航空导航性能进行预测,以有效保障导航性能。

本发明的目的通过以下技术方案来实现:一种电离层闪烁下航空导航性能预测的方法,所述方法适用于电离层闪烁下,航空飞行过程中,导航性能由导航误差、导航完好性和可用性等参数来描述,导航性能预测结果由航空导航终端计算,其特征在于可在电离层闪烁时任意场景和设定参数下,提供准确的航空导航性能参数计算及预测结果,以确保航空导航的有效性和安全性,该方法同样可用于评估各种航空导航终端受电离层闪烁的影响程度,为高性能航空导航终端的研制提供理论和实证依据。所述方法包括如下步骤:

步骤A、设定电离层闪烁的幅度闪烁和相位闪烁参数,设定导航信号的种类;

步骤B、建立导航接收机的跟踪环路模型,并计算跟踪码伪距测量误差和载波相位测量误差;

步骤C、对所测量的误差进行后置滤波,获得导航接收机的输出测量误差;

步骤D、根据所设定的电离层闪烁参数和所建立的导航接收机跟踪环路模型,计算跟踪环路的平均失锁时间;

步骤E、建立平均失锁时间关于电离层闪烁下导航信号中断频度的关联表达式,计算导航信号失锁频度;

步骤F、根据用户飞行轨迹、飞行时间计算导航卫星位置,获得卫星的几何参数;

步骤G、根据具体的飞行运行需求,计算导航终端的自主完好性监测可用性预测;

步骤H、计算飞行过程中的导航保护级,将其与运行需求中所规定的导航告警限进行比较,判断是否可用;

步骤I、根据设定时间段的导航性能参数计算结果,对该时间段的导航可用性进行预测。

其中,所述步骤A中:电离层闪烁的幅度闪烁参数为S4,其取值范围为[0.1,2],相位闪烁参数为τ,其取值范围为[0.1,1],导航信号指GNSS中频数字信号,种类包括GPS、GALILEO、GLONASS和北斗导航信号。

其中,所述步骤B中:导航接收机跟踪环路模型由一阶、二阶或三阶跟踪环路构成,其跟踪码伪距通过下面的公式来计算:

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