[发明专利]基于ITO电流扩展层的InGaAs雪崩红外探测器及其制备方法有效
| 申请号: | 201510030904.3 | 申请日: | 2015-01-22 |
| 公开(公告)号: | CN104617181B | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
| 发明(设计)人: | 吴渊渊;陆书龙;季莲;谭明;代盼;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 苏州苏纳光电有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/02;H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/18 |
| 代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 | 代理人: | 王锋 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种基于ITO电流扩展层的InGaAs雪崩红外探测器及其制备方法。该探测器包括依次形成于衬底正面的缓冲层、倍增层、渐变、电荷层、吸收层和接触层,且衬底背面还设有ITO电流扩展层;该制备方法包括在衬底正面生长外延结构层;在外延结构层中的吸收层上设置掩膜层,并在掩膜层上加工出开口,并藉此开口进行Zn扩散,从而在吸收层表层的局部区域形成接触层;在未进行Zn扩散的吸收层表面区域设置钝化层,并在接触层上淀积电极;以及,在衬底背面形成电流扩展层和在电流扩展层外围制作金属电极。本发明探测器具有高工作速度、分辨率和响应度等特点,可以更高效地应用于光电子信息通信等领域,同时制备工艺简单易实施,成本低廉,适于规模化生产。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 ito 电流 扩展 ingaas 雪崩 红外探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于ITO电流扩展层的InGaAs雪崩红外探测器,其特征在于包括依次形成于衬底正面上的缓冲层、倍增层、渐变层、电荷层、吸收层和接触层,且所述衬底背面还设有ITO电流扩展层;所述倍增层的材质选自本征In0.52Al0.48As材料,所述渐变层的材质选自In0.78Ga0.22As0.47P0.53材料,所述电荷层的材质选自n型重掺杂In0.53Ga0.47As材料,所述吸收层的材质选自本征In0.53Ga0.47As材料,所述接触层选自由Zn在所述吸收层扩散形成的p型In0.53Ga0.47As接触层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





