[发明专利]对特征点采样的方法、图像匹配方法和图像匹配设备有效
| 申请号: | 201510018840.5 | 申请日: | 2015-01-14 | 
| 公开(公告)号: | CN104778682B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 | 
| 发明(设计)人: | 吴哉仑;李准性;朴宰佑 | 申请(专利权)人: | 韩华泰科株式会社 | 
| 主分类号: | G06T7/30 | 分类号: | G06T7/30;G06T5/50 | 
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 曾世骁;李云霞 | 
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR | 
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| 摘要: | 公开了一种对特征点采样的方法、图像匹配方法和图像匹配设备。一种对特征点采样以进行图像匹配的方法包括:将第一图像划分为与将被采样的特征点的数量相应的多个区域;从每个区域提取采样特征点,使得一个区域的采样特征点与另一区域的采样特征点之间的距离满足预定条件;在提取出的采样特征点和将与第一图像匹配的第二图像的对应采样特征点的基础上,估计单应性矩阵。 | ||
| 搜索关键词: | 特征 采样 方法 图像 匹配 设备 | ||
【主权项】:
                1.一种对特征点采样的方法,所述方法包括:将第一图像划分为与将被采样的特征点的数量相应的多个区域;从每个区域提取特征点,使得一个区域的提取出的特征点与另一区域的提取出的特征点之间的距离满足预定条件;基于第一图像的提取出的特征点和将与第一图像匹配的第二图像的对应特征点,估计单应性矩阵,其中,提取特征点的步骤包括:从第一区域中的多个特征点之中提取第一特征点;从与第一特征点相隔第一距离或更长距离的第二区域中的多个特征点之中,提取第二特征点;从与第二特征点相隔第二距离或更长距离的第三区域中的多个特征点之中,提取第三特征点;从与第三特征点相隔第三距离或更长距离的第四区域中的多个特征点之中,提取第四特征点。
            
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