[发明专利]剂量率测定装置有效
申请号: | 201480081493.4 | 申请日: | 2014-08-26 |
公开(公告)号: | CN106662656B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 茂木健一;相场俊英 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16;G01T1/17;G01T1/20;G01T1/24;G01T7/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈力奕 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的剂量率测定装置中,三台半导体检测器(22)以闪烁检测器(21)的中心轴为中心彼此等间隔且相对于与中心轴垂直相交的平面彼此等角度地配置在不会阻挡放射线射入到闪烁检测器(21)的位置上。基于根据第二波高频谱而求出的平均波高值来决定能量补偿系数,对根据从闪烁检测器(21)输出的直流电压而求出的高量程剂量率的能量特性进行补偿,所述第二波高频谱利用从上述半导体检测器(22)输出的模拟电压脉冲来获得。 | ||
搜索关键词: | 剂量率 测定 装置 | ||
【主权项】:
1.一种剂量率测定装置,其特征在于,包括:检测部,该检测部具有第一放射线检测单元和第二放射线检测单元,所述第一放射线检测单元检测放射线并输出模拟电压脉冲和直流电压,所述第二放射线检测单元利用三个以上的传感器部来检测放射线并输出模拟电压脉冲;以及测定部,该测定部具有低量程剂量率运算单元、高量程剂量率运算单元和能量补偿系数决定单元,所述低量程剂量率运算单元将利用从所述第一放射线检测单元输出的模拟电压脉冲所获得的第一波高频谱转换为低量程剂量率,所述高量程剂量率运算单元将从所述第一放射线检测单元输出的直流电压转换成高量程剂量率,所述能量补偿系数决定单元基于根据第二波高频谱而求出的平均波高值来决定对于所述高量程剂量率的能量补偿系数,所述第二波高频谱利用从所述第二放射线检测单元输出的模拟电压脉冲来获得,所述第二放射线检测单元的各所述传感器部以所述第一放射线检测单元的中心轴为中心,彼此等间隔且相对于与所述中心轴垂直相交的平面彼此等角度地设置在不阻挡放射线射入到所述第一放射线检测单元的位置上,并且配置成从与所述中心轴平行的方向对各所述传感器部的敏感面进行透视而得到的面积的总和、与从垂直于所述中心轴的方向对各所述传感器部的敏感面进行透视而得到的面积相等,所述高量程剂量率运算单元将所述高量程剂量率与从所述能量补偿系数决定单元获取到的能量补偿系数相乘,来对所述高量程剂量率的能量特性进行补偿。
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