[发明专利]剂量率测定装置有效

专利信息
申请号: 201480081493.4 申请日: 2014-08-26
公开(公告)号: CN106662656B 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 茂木健一;相场俊英 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01T1/16 分类号: G01T1/16;G01T1/17;G01T1/20;G01T1/24;G01T7/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈力奕
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 剂量率 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种剂量率测定装置,其特征在于,包括:

检测部,该检测部具有第一放射线检测单元和第二放射线检测单元,所述第一放射线检测单元检测放射线并输出模拟电压脉冲和直流电压,所述第二放射线检测单元利用三个以上的传感器部来检测放射线并输出模拟电压脉冲;以及

测定部,该测定部具有低量程剂量率运算单元、高量程剂量率运算单元和能量补偿系数决定单元,所述低量程剂量率运算单元将利用从所述第一放射线检测单元输出的模拟电压脉冲所获得的第一波高频谱转换为低量程剂量率,所述高量程剂量率运算单元将从所述第一放射线检测单元输出的直流电压转换成高量程剂量率,所述能量补偿系数决定单元基于根据第二波高频谱而求出的平均波高值来决定对于所述高量程剂量率的能量补偿系数,所述第二波高频谱利用从所述第二放射线检测单元输出的模拟电压脉冲来获得,

所述第二放射线检测单元的各所述传感器部以所述第一放射线检测单元的中心轴为中心,彼此等间隔且相对于与所述中心轴垂直相交的平面彼此等角度地设置在不阻挡放射线射入到所述第一放射线检测单元的位置上,并且配置成从与所述中心轴平行的方向对各所述传感器部的敏感面进行透视而得到的面积的总和、与从垂直于所述中心轴的方向对各所述传感器部的敏感面进行透视而得到的面积相等,

所述高量程剂量率运算单元将所述高量程剂量率与从所述能量补偿系数决定单元获取到的能量补偿系数相乘,来对所述高量程剂量率的能量特性进行补偿。

2.如权利要求1所述的剂量率测定装置,其特征在于,

包括剂量率切换单元,该剂量率切换单元求出补偿了所述能量特性的高量程剂量率与所述低量程剂量率的比,基于该比以及补偿了所述能量特性的高量程剂量率,来对所述低量程剂量率和补偿了所述能量特性的高量程剂量率进行切换并进行输出。

3.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

使用所述传感器部为半导体传感器的半导体检测器作为所述第二放射线检测单元。

4.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

使用所述传感器部为闪烁光纤的闪烁光纤检测器作为所述第二放射线检测单元。

5.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

所述低量程剂量率运算单元以恒定周期输入所述第一波高频谱来将波高转换为剂量率,并根据利用移动平均而求得的平均剂量率来求出所述低量程剂量率。

6.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

所述高量程剂量率运算单元输入对重复频率的数字脉冲进行计数而得到的计数值并将其转换为剂量率,并根据利用移动平均而求得的平均剂量率来求出所述高量程剂量率,其中,所述重复频率的数字脉冲与从所述第一放射线检测单元输出的直流电压成正比。

7.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

所述测定部包括暗电流补偿单元,该暗电流补偿单元基于向所述第一放射线检测单元提供高电压的高电压提供单元的高电压设定值,来求出所述第一放射线检测单元的暗电流,并计算与该暗电流相当的暗电流剂量率,

所述高量程剂量率运算单元对所述高量程剂量率乘以从所述能量补偿系数决定单元获取到的能量补偿系数后,减去从所述暗电流补偿单元获取到的暗电流剂量率,从而对所述高量程剂量率的能量特性和暗电流进行补偿。

8.如权利要求7所述的剂量率测定装置,其特征在于,

所述检测部包括对设置有所述第一放射线检测单元的空间的温度进行检测并输出温度信号的温度传感器,所述测定部包括输出基于从所述温度传感器输出的温度信号而测定到的温度的温度测定部,所述暗电流补偿单元基于从所述温度测定部输出的温度和所述高电压提供单元的高电压设定值,来求出所述第一放射线检测单元的暗电流,并计算与该暗电流相当的暗电流剂量率。

9.如权利要求1或2所述的剂量率测定装置,其特征在于,

所述检测部包括对设置有所述第一放射线检测单元的空间的温度进行检测并输出温度信号的温度传感器,所述测定部包括:温度测定部,该温度测定部输出基于从所述温度传感器输出的温度信号而测定到的温度;K-40波峰检测部,该K-40波峰检测部基于所述第一波高频谱对所述第一放射线检测单元的构成材料所包含的天然的放射性核素K-40的频谱波峰进行检测;以及增益补偿单元,该增益补偿单元基于从所述温度测定部获取到的温度和从所述K-40波峰检测部获取到的K-40的频谱波峰的检测结果,来决定对K-40的频谱波峰与基准位置的偏差进行补偿的增益。

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