[发明专利]磁阻效应元件、自旋MOSFET和自旋传导元件有效
| 申请号: | 201480063796.3 | 申请日: | 2014-11-19 |
| 公开(公告)号: | CN105745761B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
| 发明(设计)人: | 佐佐木智生;及川亨 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
| 主分类号: | H01L29/82 | 分类号: | H01L29/82;G11B5/39;H01L29/66 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦;陈明霞 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供一种磁阻效应元件,其具备:半导体通道层(7),经由第1隧道层(81A)配置于半导体通道层上的磁化固定层(12A),经由第2隧道层(81B)配置于半导体通道层上的磁化自由层(12B),半导体通道层实质上由包含了与第1隧道层的界面的第1区域(7A)、包含了与第2隧道层的界面的第2区域(7B)、第3区域(7C)构成,第1区域和第2区域的杂质浓度为超过1×1019cm‑3的浓度,第3区域的杂质浓度为1×1019cm‑3以下,第1区域和第2区域隔着第3区域而分离,第1区域和第2区域的杂质浓度分别从半导体通道层与第1隧道层的界面以及半导体通道层与第2隧道层的界面单调地在半导体通道层的厚度方向上减少。 | ||
| 搜索关键词: | 磁阻 效应 元件 自旋 金属 氧化物 半导体 场效应 晶体管 传导 | ||
【主权项】:
1.一种磁阻效应元件,其特征在于:具备:半导体通道层,磁化固定层,通过第1隧道层被配置于所述半导体通道层上,以及磁化自由层,通过第2隧道层被配置于所述半导体通道层上,所述半导体通道层实质上由与所述第1隧道层形成界面的第1区域、与所述第2隧道层形成界面的第2区域、以及第3区域构成,所述第1区域和所述第2区域的杂质浓度为超过1×1019cm‑3的浓度,所述第3区域的杂质浓度为1×1019cm‑3以下,所述第1区域和所述第2区域隔着所述第3区域而分离,所述第1区域和所述第2区域的杂质浓度分别在最接近于所述半导体通道层与所述第1隧道层的界面的部分、以及最接近于所述半导体通道层与所述第2隧道层的界面的部分成为最高,并且分别从所述半导体通道层与所述第1隧道层的界面以及所述半导体通道层与所述第2隧道层的界面开始在所述半导体通道层的厚度方向上单调地递减。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK株式会社,未经TDK株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480063796.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:特高压直流启动时触发角控制策略
- 下一篇:使用低压工艺制造的高压器件
- 同类专利
- 专利分类





