[发明专利]电子器件密封用片及电子器件封装体的制造方法无效

专利信息
申请号: 201480051095.8 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN105556660A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 石井淳;丰田英志 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 蒋亭
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可以防止基材的浮起(基材的剥离)的电子器件密封用片及电子器件封装体的制造方法。本发明涉及具备具有在基材上层叠了粘合剂层的结构的保护膜、以及层叠于上述粘合剂层上的热固化性树脂层的电子器件密封用片。
搜索关键词: 电子器件 密封 封装 制造 方法
【主权项】:
一种电子器件密封用片,其具备:具有在基材上层叠了粘合剂层的结构的保护膜、以及层叠于所述粘合剂层上的热固化性树脂层。
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