[发明专利]蚀刻方法在审
申请号: | 201480046269.1 | 申请日: | 2014-09-02 |
公开(公告)号: | CN105474368A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 户花敏胜;山下扶美子 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;B82Y40/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供对被处理体的被蚀刻层进行蚀刻的方法。该方法包括如下工序:在设置于被蚀刻层上的中间层上形成包含第1聚合物和第2聚合物的能够自组装的嵌段共聚物层的工序(a);以由嵌段共聚物层形成包含第1聚合物的第1区域和包含第2聚合物的第2区域的方式对被处理体进行处理的工序(b);在对被处理体进行处理的工序(b)之后,对第2区域和该第2区域的正下方的中间层进行蚀刻而形成掩模的工序(c);在形成掩模的工序(c)之后,在收纳有被处理体的等离子体处理装置的处理容器内,生成包含四氯化硅气体和氧气的处理气体的等离子体,在掩模上形成保护膜的工序(d);以及在形成保护膜的工序(d)之后,对被蚀刻层进行蚀刻的工序(e)。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 | ||
【主权项】:
一种对被处理体的被蚀刻层进行蚀刻的方法,其包括如下工序:在设置于所述被蚀刻层上的中间层上形成包含第1聚合物和第2聚合物的能够自组装的嵌段共聚物层的工序;以由所述嵌段共聚物层形成包含所述第1聚合物的第1区域和包含所述第2聚合物的第2区域的方式对所述被处理体进行处理的工序;在对所述被处理体进行处理的工序之后,对所述第2区域和该第2区域的正下方的中间层进行蚀刻而形成掩模的工序;在形成所述掩模的工序之后,在收纳有所述被处理体的等离子体处理装置的处理容器内,生成包含四氯化硅气体和氧气的处理气体的等离子体,在所述掩模上形成保护膜的工序;以及在形成所述保护膜的工序之后,对所述被蚀刻层进行蚀刻的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造