[发明专利]蚀刻方法在审

专利信息
申请号: 201480046269.1 申请日: 2014-09-02
公开(公告)号: CN105474368A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 户花敏胜;山下扶美子 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065;B82Y40/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供对被处理体的被蚀刻层进行蚀刻的方法。该方法包括如下工序:在设置于被蚀刻层上的中间层上形成包含第1聚合物和第2聚合物的能够自组装的嵌段共聚物层的工序(a);以由嵌段共聚物层形成包含第1聚合物的第1区域和包含第2聚合物的第2区域的方式对被处理体进行处理的工序(b);在对被处理体进行处理的工序(b)之后,对第2区域和该第2区域的正下方的中间层进行蚀刻而形成掩模的工序(c);在形成掩模的工序(c)之后,在收纳有被处理体的等离子体处理装置的处理容器内,生成包含四氯化硅气体和氧气的处理气体的等离子体,在掩模上形成保护膜的工序(d);以及在形成保护膜的工序(d)之后,对被蚀刻层进行蚀刻的工序(e)。
搜索关键词: 蚀刻 方法
【主权项】:
一种对被处理体的被蚀刻层进行蚀刻的方法,其包括如下工序:在设置于所述被蚀刻层上的中间层上形成包含第1聚合物和第2聚合物的能够自组装的嵌段共聚物层的工序;以由所述嵌段共聚物层形成包含所述第1聚合物的第1区域和包含所述第2聚合物的第2区域的方式对所述被处理体进行处理的工序;在对所述被处理体进行处理的工序之后,对所述第2区域和该第2区域的正下方的中间层进行蚀刻而形成掩模的工序;在形成所述掩模的工序之后,在收纳有所述被处理体的等离子体处理装置的处理容器内,生成包含四氯化硅气体和氧气的处理气体的等离子体,在所述掩模上形成保护膜的工序;以及在形成所述保护膜的工序之后,对所述被蚀刻层进行蚀刻的工序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480046269.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top