[发明专利]在芯片上制备多个测量区域的方法以及具有测量区域的芯片有效
| 申请号： | 201480041722.X | 申请日： | 2014-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN105408739B | 公开（公告）日： | 2019-06-11 |
| 发明（设计）人： | M.希伯;H.舍德 | 申请（专利权）人： | 贝林格尔·英格海姆维特梅迪卡有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/403 | 分类号： | G01N27/403;G01N27/30;B01L3/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 德国英*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于在芯片上制备多个测量区域的方法，所述测量区域设有用于电学检测反应的电极。为了使各测量区域彼此可靠地分开，根据本发明在所述芯片表面上形成具有强疏水性能的氟硅烷单层。由此，在使用液体点样期间能够可靠地防止点样后的液滴合并以及由此所导致的应被固定在所述测量区域的液滴物质的混合。本发明还涉及这样的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 制备 测量 区域 方法 以及 具有 | ||
【主权项】：
1.一种用于制备具有多个可电寻址的测量区域(16)的芯片(11)或用于在芯片(11)上制备多个测量区域(16)的方法，其中在芯片(11)上于各测量区域(16)中使可电接触的电极对(23a、23b)结构化，并且其中所述测量区域(16)通过形成使所述测量区域(16)相互分开的隔室结构(24)而形成，其特征在于，隔室结构(24)的形成包括以下工艺步骤：‑通过将疏水层(12)施加至芯片表面(13)来在除测量区域(16)以外的芯片表面(13)上产生疏水润湿性能，其中，将疏水层(12)以疏水光刻胶层的形式施加至芯片表面(13)以形成隔室结构。
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