[发明专利]X射线CT装置以及校正处理装置有效
| 申请号： | 201480041695.6 | 申请日： | 2014-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN105451658B | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 高桥悠;后藤大雅;广川浩一 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G06T5/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 樊建中 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了提供从输出信号值(测量数据)中降低系统噪声的技术，X射线CT装置具有：对被检体照射X射线的X射线产生部；检测透过被检体的X射线的X射线检测器；对所述X射线检测器的输出信号进行校正的校正处理部；和根据所述校正处理部的输出来重构图像的重构运算部，所述X射线检测器包含被排列的检测元件，所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值，一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。 | ||
| 搜索关键词： | 输出信号 检测 校正处理部 被检体 校正处理装置 照射X射线 测量数据 降低系统 重构图像 重构运算 方差 校正 噪声 输出 | ||
【主权项】：
1.一种X射线CT装置，具有：X射线产生部，其向被检体照射X射线；X射线检测器，其检测透过被检体的X射线；校正处理部，其对所述X射线检测器的输出信号值进行校正；和重构运算部，其根据所述校正处理部的输出来重构图像，所述X射线检测器包含被排列的检测元件，该X射线CT装置的特征在于，所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值，一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。
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