[发明专利]X射线CT装置以及校正处理装置

权利要求书

1.一种X射线CT装置，具有：

X射线产生部，其向被检体照射X射线；

X射线检测器，其检测透过被检体的X射线；

校正处理部，其对所述X射线检测器的输出信号值进行校正；和

重构运算部，其根据所述校正处理部的输出来重构图像，

所述X射线检测器包含被排列的检测元件，

该X射线CT装置的特征在于，

所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值，一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。

2.根据权利要求1所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述校正处理部分别求取以所述关注的检测元件的校正后的输出信号值为变量的第1评价函数以及第2评价函数的值，一边变更所述校正后的输出信号值一边通过逐次处理来求取使该第1评价函数以及第2评价函数的值之和成为最小的所述校正后的输出信号值，

所述第1评价函数是所述关注的检测元件的校正前的输出信号值与其校正后的输出信号值之差越小则所述第1评价函数的值越小的函数，

所述第2评价函数是所述关注的检测元件与和其接近的检测元件的校正后的输出信号值之差越小则所述第2评价函数的值越小的函数。

3.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述第1评价函数是在所述关注的检测元件的校正前的输出信号值与其校正后的输出信号值之差的平方上乘以给定的系数T的函数。

4.根据权利要求3所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述系数T是通过对所述关注的检测元件i和以其为中心的1个以上的检测元件j的集合的输出信号值进行加权相加而求取到的值。

5.根据权利要求4所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述系数T是所述检测元件i和所述检测元件j的集合的各个输出信号值的平均值。

6.根据权利要求4所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述系数T是按照所述检测元件i与所述检测元件j的空间上的距离对1个以上的所述检测元件j的输出信号值分别加权并相加而得到的值。

7.根据权利要求4所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述系数T是根据所述检测元件i的输出信号值与所述检测元件j的输出信号值的相关性对1个以上的所述检测元件j的输出信号值分别加权并相加而得到的值。

8.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述校正处理部在求取所述第1评价函数以及第2评价函数的值之和时，使用加权系数β来进行加权相加。

9.根据权利要求8所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述加权系数β是所述校正处理部针对在遮蔽了所述X射线产生部向被检体照射的X射线的状态下得到的多个所述检测元件的输出信号值求取到的所述校正后的输出信号值的方差成为预先确定的值以下的值。

10.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述校正处理部在求取所述第1评价函数以及第2评价函数的值之和时，使用加权系数α来进行加权相加，所述加权系数α按每个所述检测元件来确定。

11.根据权利要求10所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述检测元件的输出信号值为非正数，且其绝对值的值越大，所述加权系数α越大。